[其他]單模光纖雙折射測量方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 101985000000420 | 申請日： | 1985-04-01 |
| 公開（公告）號： | CN85100420B | 公開（公告）日： | 1988-04-13 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 黃上元;林宗琦 | 申請（專利權(quán)）人： | 上海交通大學(xué)光纖技術(shù)研究所 |
| 主分類號： | 分類號： | ||
| 代理公司： | 上海專利事務(wù)所 | 代理人： | 顏承根 |
| 地址： | 上海市法華*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： |
一種單模光纖雙折射測量方法，特別適用于測量短拍長的單模光纖。此方法是利用消光法測出單模光纖在不同扭曲下的偏振狀態(tài)，即測出兩個輸出線偏振態(tài)的傳播相位差２φ的絕對值，繪出ｓｉｎ |
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| 搜索關(guān)鍵詞： | 單模 光纖 雙折射 測量方法 | ||
【主權(quán)項】：
暫無信息
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