[其他]測量鈾同位素位移光譜的方法和裝置在審
| 申請號: | 101985000002218 | 申請日: | 1985-04-01 |
| 公開(公告)號: | CN85102218B | 公開(公告)日: | 1988-05-25 |
| 發明(設計)人: | 金巨廣;王松岳;孫孝忠;徐俊;王秀蘭;金昌泰;生明濤 | 申請(專利權)人: | 中國科學院長春應用化學研究所 |
| 主分類號: | 分類號: | ||
| 代理公司: | 中國科學院長春專利事務所 | 代理人: | 曹桂珍;宋天平 |
| 地址: | 吉林省長*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: |
一種測量鈾同位素位移光譜的光電流光譜方法和裝置。采用雙光路均測待測信號的檢測系統,把一束可調諧染料激光分成兩路,把 |
||
| 搜索關鍵詞: | 測量 同位素 位移 光譜 方法 裝置 | ||
【主權項】:
暫無信息
下載完整專利技術內容需要扣除積分,VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院長春應用化學研究所,未經中國科學院長春應用化學研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://m.szxzyx.cn/patent/101985000002218/,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 同類專利
- 專利分類





