[其他]測量樣品折射率的方法在審
| 申請號： | 101985000002907 | 申請日： | 1985-07-16 |
| 公開（公告）號： | CN85102907B | 公開（公告）日： | 1988-12-07 |
| 發明（設計）人： | 冷長庚 | 申請（專利權）人： | 冷長庚 |
| 主分類號： | 分類號： | ||
| 代理公司： | 電子工業部專利服務中心 | 代理人： | 張桂霞 |
| 地址： | 北京市1*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本發明提出了由激光器、全反射鏡、探測器、電路和測量系統所構成的折射儀。它利用“γ”形曲線的“平直段”、“陡降段”和“緩升段”分別做校準、精測和粗測，雙光束做自補償。特點是不做角度測量、無活動部件、結構簡單、實時測量。通過對棱鏡材料和入射角的選擇，可設計制造出折射率測量范圍為大于１直到無窮大的一系列精密儀器。它也極適于用做探測與物質折射率有關的各種物理量的實時傳感器。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 測量 樣品 折射率 方法 | ||
【主權項】：
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