[其他]精密測量封閉容器內高壓流體壓力的系統在審
| 申請號： | 101985000004145 | 申請日： | 1985-05-31 |
| 公開（公告）號： | CN1004375B | 公開（公告）日： | 1989-05-31 |
| 發明（設計）人： | 何志邁;張于峰 | 申請（專利權）人： | 天津大學 |
| 主分類號： | 分類號： | ||
| 代理公司： | 天津大學專利代理事務所 | 代理人： | 諸凱;曹玉平 |
| 地址： | 天津市南*** | 國省代碼： | 天津;12 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | 一種精密測量封閉容器內高壓流體壓力的系統。本發明屬于對密閉系統內任何高壓流體的壓力進行測量的裝置。本系統主要采用了電極式薄膜傳感器及耐高壓的Ｕ型管水銀壓差計，并將壓力分為整數與小數分別測取的方法，從而提高了測壓精度，并解決了敏感元件結構復雜，靈敏度較低等同題。此系統也可測量處于高溫狀態下（＜２００℃）的流體，而且在測量過程中流體無損耗。其測壓方法對于工業方面，如化工設備等有一定的實用價值，電極式薄膜傳感器，可用于工業生產等等其它領域。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 精密 測量 封閉 容器 高壓 流體 壓力 系統 | ||
【主權項】：
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