[其他]微波高度測量方法和裝置在審
| 申請號： | 101985000004668 | 申請日： | 1985-06-18 |
| 公開（公告）號： | CN85104668B | 公開（公告）日： | 1988-07-27 |
| 發明（設計）人： | 科特·奧洛夫·艾德瓦德森 | 申請（專利權）人： | 塞伯海洋電氣公司 |
| 主分類號： | 分類號： | ||
| 代理公司： | 中國國際貿易促進委員會專利代理部 | 代理人： | 李強 |
| 地址： | 瑞典格特伯格S-4*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | 材料高度的微波測量。發送裝置產生出具有對應于待測距離之頻率的測量信號。和具有對應已知長度之頻率的基準信號。用一與該距高的假設值和已知長度有關的數乘基準信號，并用一固定數除之。以使該信號的頻率等于測量信號的期望頻率。把產生的控制信號同該測量信號相混合，測量相位差，并計算相繼的取樣間隔中的相位差變化，以確定假設距離的修正項。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 微波 高度 測量方法 裝置 | ||
【主權項】：
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