[其他]溫度測(cè)量裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 101985000008209 | 申請(qǐng)日: | 1985-10-14 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN85108209B | 公開(kāi)(公告)日: | 1988-08-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 井田芳明 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 三菱電機(jī)株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | 分類號(hào): | ||
| 代理公司: | 中國(guó)專利代理有限公司 | 代理人: | 吳秉芬 |
| 地址: | 日本東京都千*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | 一種光學(xué)溫度測(cè)量裝置,無(wú)論其傳感器的溫度發(fā)生變化或傳感器的特性有因時(shí)間過(guò)長(zhǎng)而降低時(shí)部能提供準(zhǔn)確的輸出。本裝置包括一個(gè)光源,一個(gè)分光器及一個(gè)溫度傳感器,其構(gòu)成材料的一端經(jīng)過(guò)第一光導(dǎo)通路與光源相聯(lián),另一端經(jīng)過(guò)另一光導(dǎo)通路與分光器相聯(lián)。分光器的輸出被轉(zhuǎn)換成電信號(hào),該信號(hào)隨即被不同的比較電平所檢測(cè),以求得傳感器在各參考電平時(shí)的吸收波長(zhǎng)范圍的較高端數(shù)值,然后對(duì)這些較高端數(shù)值進(jìn)行處理,以求得溫度傳感器的隨溫度而變化的吸光特性曲線的上升點(diǎn)。 | ||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 溫度 測(cè)量 裝置 | ||
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于三菱電機(jī)株式會(huì)社,未經(jīng)三菱電機(jī)株式會(huì)社許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://m.szxzyx.cn/patent/101985000008209/,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:磁盤(pán)裝置
- 下一篇:直流伺服電機(jī)的控制系統(tǒng)
- 同類專利
- 專利分類
- 控制溫度/濕度或溫度的方法及控制溫度/濕度或溫度的裝置
- 藍(lán)牙雙溫度燒烤溫度儀
- 配對(duì)溫度計(jì)溫度確定
- 溫度控制裝置、溫度調(diào)節(jié)系統(tǒng)和溫度控制方法
- 溫度計(jì)、溫度檢測(cè)單元、溫度檢測(cè)裝置以及溫度檢測(cè)系統(tǒng)
- 溫度探測(cè)頭、溫度探測(cè)設(shè)備和溫度探測(cè)方法
- 溫度檢測(cè)方法、溫度檢測(cè)裝置和溫度檢測(cè)設(shè)備
- 溫度貼片及溫度檢測(cè)系統(tǒng)
- 溫度貼片及溫度檢測(cè)系統(tǒng)
- 溫度監(jiān)控設(shè)備、溫度監(jiān)控方法和溫度監(jiān)控系統(tǒng)
- 測(cè)量設(shè)備、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量配件和測(cè)量方法
- 測(cè)量尺的測(cè)量組件及測(cè)量尺
- 測(cè)量輔助裝置、測(cè)量裝置和測(cè)量系統(tǒng)
- 測(cè)量觸頭、測(cè)量組件和測(cè)量裝置
- 測(cè)量觸頭、測(cè)量組件和測(cè)量裝置
- 測(cè)量容器、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量系統(tǒng)、測(cè)量程序以及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量電路、測(cè)量方法及測(cè)量設(shè)備





