[其他]射線測厚方法和射線數字厚度計在審
| 申請號： | 101987000004383 | 申請日： | 1987-06-25 |
| 公開（公告）號： | CN87104383B | 公開（公告）日： | 1988-09-21 |
| 發明（設計）人： | 王澤民 | 申請（專利權）人： | 清華大學 |
| 主分類號： | 分類號： | ||
| 代理公司： | 清華大學專利事務所 | 代理人： | 張志東 |
| 地址： | 北京市海*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | 本發明用于材料厚度的無接觸在線測量，由放射源、探測器和二次儀表構成。其二次儀表包括靜電計，雙積分式比值對數Ａ／Ｄ變換器，時間常數調整電路和Ｖｏ保持電路，Ｖｏ為材料厚度為０時靜電計的輸出電壓。由于引入了雙積分比值對數Ａ／Ｄ變換器，并且在變換器積分過程中能改變時間常數，使本厚度計在量程范圍內能給出滿足誤差要求的厚度數字指示。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 射線 方法 數字 厚度 | ||
【主權項】：
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