[其他]聚焦-半聚焦兩用X光衍射計無效
| 申請號： | 85100097 | 申請日： | 1985-04-01 |
| 公開（公告）號： | CN85100097A | 公開（公告）日： | 1986-09-03 |
| 發明（設計）人： | 汪泓宏 | 申請（專利權）人： | 清華大學 |
| 主分類號： | G01N23/207 | 分類號： | G01N23/207 |
| 代理公司： | 清華大學專利事務所 | 代理人： | 羅文群 |
| 地址： | 北京市海*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本發明提出一種用于測定晶體物質結構的聚焦〔西曼-博林〔Seeman—Bohlin)〕和半聚焦〔布拉格-布倫塔諾(Bragg—Brentano)〕兩用的X光衍射計。這種衍射計，通過現場裝拆少量部件，可用作聚焦衍射計，或半聚焦衍射計；具有一機兩用的優點。其主要技術特征是在兩同心的中心軸上裝備一套三齒輪系統。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 聚焦 兩用 衍射 | ||
【主權項】：
1、一種用于測定晶體物質結構的聚焦[西曼-博林(Seeman-Behlin)]和半聚焦[布拉格-布倫塔諾(Bragg-Brentano)]兩用X光衍射計，其特征是在通常的半聚焦X光衍射計的兩同心的中心軸上裝備一個三齒輪的系統。
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