[其他]環(huán)境異常探測(cè)裝置無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 85101339 | 申請(qǐng)日: | 1985-04-01 |
| 公開(公告)號(hào): | CN85101339B | 公開(公告)日: | 1987-07-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 木村徹男;田中征一;鈴木隆司 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 日探株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | G01N21/53 | 分類號(hào): | G01N21/53 |
| 代理公司: | 中國(guó)國(guó)際貿(mào)易促進(jìn)委員會(huì)專利代理部 | 代理人: | 李強(qiáng),趙蓉民 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | 一種環(huán)境異常探測(cè)裝置,用于探測(cè)煙霧、熱和氣體的異常,該裝置包括用于周期性地從用于探測(cè)這些現(xiàn)象的探測(cè)器抽取模擬信號(hào)的取樣電路,一種用于借助于階梯電平把抽樣信號(hào)量化的量化器,以及帶有多個(gè)計(jì)數(shù)器以提供與階梯電平相應(yīng)的不同累加時(shí)間的累加器。當(dāng)異常嚴(yán)重時(shí),可以在很短的時(shí)間內(nèi)產(chǎn)生異常信號(hào),而由于累加作用而導(dǎo)致的可靠性并未降低。 | ||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 環(huán)境 異常 探測(cè) 裝置 | ||
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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