[其他]利用全息共軛像測(cè)量物體表面位移的方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 85103210 | 申請(qǐng)日： | 1985-04-24 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN85103210A | 公開（公告）日： | 1986-07-02 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 于乃旬 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 西安交通大學(xué) |
| 主分類號(hào)： | G01B11/02 | 分類號(hào)： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 西安交通大學(xué)專利事務(wù)所 | 代理人： | 于乃旬,嚴(yán)暉 |
| 地址： | 陜西省*** | 國(guó)省代碼： | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說(shuō)明書： | 查看更多 |
| 摘要： | 利用全息共軛像測(cè)量物體表面位移的方法屬于力學(xué)測(cè)量中光測(cè)技術(shù)中的全息干涉術(shù)，按照國(guó)際專利分類法屬于G02b類。本發(fā)明的關(guān)鍵是根據(jù)共軛觀察點(diǎn)理論，利用共軛像中的信息，通過(guò)從某一觀察點(diǎn)對(duì)共軛像的觀察可以間接地獲得從其共軛觀察點(diǎn)對(duì)原始像的“觀察”結(jié)果，但從該共軛觀察點(diǎn)直接對(duì)原始像進(jìn)行觀察是不可能的，這樣便擴(kuò)大了信息來(lái)源，從而提高測(cè)量精度。 | ||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 利用 全息 共軛 測(cè)量 物體 表面 位移 方法 | ||
【主權(quán)項(xiàng)】：
1、一種測(cè)量物體表面位移的全息方法，對(duì)于一個(gè)發(fā)生位移的物體表面進(jìn)行全息照相，獲得測(cè)量用的全息圖后，根據(jù)再現(xiàn)像上的條紋圖樣就能算出物體表面上各點(diǎn)的位移；本方法的特征是不僅利用原始像而且還利用共軛像中的信息以提高測(cè)量精度。
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