[其他]用放射線分析測定物組分的方法無效
| 申請號： | 85107357 | 申請日： | 1985-09-28 |
| 公開（公告）號： | CN85107357A | 公開（公告）日： | 1986-10-15 |
| 發明（設計）人： | 田村順一;原亮一;安倍文彥;小相沢久 | 申請（專利權）人： | 古河電氣工業有限公司 |
| 主分類號： | G01N23/02 | 分類號： | G01N23/02 |
| 代理公司： | 上海專利事務所 | 代理人： | 王樹儔 |
| 地址： | 日本東京都千*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | 本發明涉及非破壞性分析測定物的物質構成和組分的方法。用任意的放射線對由多種元素或物質構成的測定物進行照射，讓透射測定物的透射線對準多個單晶體，取出多種具有特定能量的透射線，并能根據測定物的厚度和組成元素自由地改變取出的透射線能量，用放射線檢測裝置分析這些透射線，據此對測定物中各構成元素的組分進行分析，不僅分析精高度，而且確保分析操作容易，所需成本低。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 放射線 分析 測定 組分 方法 | ||
【主權項】：
1、一種用放射線來分析被測光學纖維基材料的方法，其包括以下步驟：用放射線發生裝置產生的放射線照射到包含多種元素或物質組成的組份上，由基材料上發射的透射線射到多個單晶體，產生幾種特定能量的透射線，并用放射線檢測裝置測定該放射線，以分析上述基材料組成元素的組份。
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