[其他]一種微分極化電阻測(cè)量方法及測(cè)試儀無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 86105493 | 申請(qǐng)日: | 1986-08-20 |
| 公開(公告)號(hào): | CN86105493A | 公開(公告)日: | 1988-03-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 曹楚南;王友;宋詩哲 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院金屬腐蝕與防護(hù)研究所 |
| 主分類號(hào): | G01N17/00 | 分類號(hào): | G01N17/00;G01N27/00 |
| 代理公司: | 中國科學(xué)院沈陽專利事務(wù)所 | 代理人: | 李紹光 |
| 地址: | 遼寧省*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | 本發(fā)明提供了一種測(cè)量腐蝕體系極化電阻的方法,其特征在于對(duì)電極進(jìn)行小幅值線性極化掃描,通過測(cè)量腐蝕電位處的電流微分值來求得極化電阻。本發(fā)明還提供了一種實(shí)施上述測(cè)量方法用的微分極化電阻測(cè)試儀。它由(I)線性電位掃描信號(hào)電路;(II)恒電位電路;(III)微分電路;(IV)濾波放大電路;(V)微分電流采樣保持電路;(VI)腐蝕電位跟蹤保持電路所組成。本發(fā)明所提供的微分極化電阻測(cè)量方法和測(cè)試儀克服了現(xiàn)行線性極化測(cè)量技術(shù)的缺點(diǎn),而且還可以提高測(cè)量速度。 | ||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 微分 極化 電阻 測(cè)量方法 測(cè)試儀 | ||
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