[其他]β射線測定蛋殼厚度的裝置無效
| 申請號: | 86207436 | 申請日: | 1986-10-15 |
| 公開(公告)號: | CN86207436U | 公開(公告)日: | 1987-09-09 |
| 發明(設計)人: | 王樹禹;崔在久 | 申請(專利權)人: | 東北農學院同位素教研室 |
| 主分類號: | G01N33/08 | 分類號: | G01N33/08;G01B15/02 |
| 代理公司: | 黑龍江省專利服務中心 | 代理人: | 于坤,李長春 |
| 地址: | 黑龍江省哈爾濱市香*** | 國省代碼: | 黑龍江;23 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | β射線測定蛋殼厚度的裝置,利用β射線對物質的反射強度和物質的厚度成正相關測定蛋殼厚度,屬于核技術應用領域。本實用新型由環狀測試頭、光電倍增管、錫箔及計數器組成。測試頭內向環心傾斜45度角的放射源發出一束β射線輻射蛋殼,反射后穿透錫箔到光電倍增管,經放大轉換成電脈沖信號輸出,由計數器顯示結果。 | ||
| 搜索關鍵詞: | 射線 測定 蛋殼 厚度 裝置 | ||
【主權項】:
1、一種測定蛋殼厚度的裝置,其特征在于它由裝有放射源的環狀測試頭、光電倍增管、錫箔和計數器組成。
下載完整專利技術內容需要扣除積分,VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于東北農學院同位素教研室,未經東北農學院同位素教研室許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://m.szxzyx.cn/patent/86207436/,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種機加工圓柱孔的工具
- 下一篇:花盆墊盤





