[其他]同位素X螢光載流測定礦漿濃度的方法無效
| 申請號： | 87102281 | 申請日： | 1987-03-23 |
| 公開（公告）號： | CN87102281A | 公開（公告）日： | 1988-10-12 |
| 發明（設計）人： | 李增強;張宏江;張世春;金曉威 | 申請（專利權）人： | 冶金工業部包頭稀土研究院 |
| 主分類號： | G01N23/20 | 分類號： | G01N23/20 |
| 代理公司： | 冶金專利事務所 | 代理人： | 陳佩琦 |
| 地址： | 內蒙古自治區*** | 國省代碼： | 內蒙古;15 |
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| 摘要： | 一種同位素X螢光載流測定礦漿濃度的方法，采用低能光子源238PU激發礦漿樣品，利用在線X螢光分析中一般作為干擾譜線處理的反散射峰強度測出與其對應的瞬時濃度值?？梢栽诰€測定含各種元素、任何范圍的礦漿濃度值。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 同位素 螢光 測定 礦漿 濃度 方法 | ||
【主權項】：
1、一種同位素X螢光載流測定礦漿濃度的方法，其特征在于采用低能光子源238Pu激發礦漿樣品，利用其產生的反散射射線強度與礦漿濃度之間的單值對應的非線性關系，確定數學模型，測定與其反散射強度相應的瞬時濃度值。
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