[其他]半導體整流器件動態質量分選裝置無效
| 申請號： | 87209491 | 申請日： | 1987-06-24 |
| 公開（公告）號： | CN87209491U | 公開（公告）日： | 1988-05-11 |
| 發明（設計）人： | 趙富;李曾錫;葛淑欣;霍一平 | 申請（專利權）人： | 石家莊市自動化所 |
| 主分類號： | G01R31/26 | 分類號： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 河北省專利事務所 | 代理人： | 王苑祥 |
| 地址： | 河北省石*** | 國省代碼： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本實用新型公開了一種半導體整流器件動態質量分選裝置，它包括被測件的預熱裝置，標況工況建立部分，分選機構，其根據動態反向平均電流以環境溫度Ta及檢測動態反向平均電流依據，實現多級檢測分析，配合一級復檢裝置。它可以保證上機合格率，極有利于生產廠和使用廠進行質量控制。 | ||
| 搜索關鍵詞： | 半導體 整流 器件 動態 質量 分選 裝置 | ||
【主權項】：
1、一種半導體整流器件動態質量分選裝置，其特征在于該裝置包括根據最高環境溫度Tam設定的預熱器(A1)標準工況設定部分(A2)，動態參數提取電路(A3)，微機管理系統(C)及機械分選配套機構(A4)。
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