[其他]測量高溫下材料力學性能的光學裝置在審
| 申請號： | 101985000000056 | 申請日： | 1985-04-01 |
| 公開（公告）號： | CN85100056B | 公開（公告）日： | 1988-03-09 |
| 發明（設計）人： | 金觀昌;章偉寶;董良金 | 申請（專利權）人： | 清華大學 |
| 主分類號： | 分類號： | ||
| 代理公司： | 清華大學專利事務所 | 代理人： | 張秀珍 |
| 地址： | 北京市海*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測量 高溫 材料 力學性能 光學 裝置 | ||
【權利要求書】：
1、一種測量高溫下材料力學性能的裝置，它包括：
a，一個可加溫到1000℃的高保溫加熱爐，其中，在加熱爐的前面有空心的可通水冷卻的前蓋〔3〕，在前蓋板中心裝有可拆卸的石英玻璃窗〔2〕，前蓋〔3〕后放置有雙層石英玻璃的耐火磚〔4〕，
b，設置在爐體內的加載裝置，其中，純彎夾具架〔6〕為能耐1000℃高溫的新型共熔合金加工而成，二對刀口〔15〕是剛玉制成，
c，測量用的全息干涉系統，其中，象平面全息照相光路，由激光器〔16〕，經分光鏡〔17〕，反射鏡〔18〕，和擴束鏡〔19〕，由透鏡〔20〕將試件成象在干版〔21〕上，
d，測力系統，其中，包括冷卻水套〔9〕，測力傳感器〔10〕，等強度梁〔11〕，加載螺絲〔12〕。
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于清華大學，未經清華大學許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://m.szxzyx.cn/pat/books/101985000000056/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 同類專利
- 專利分類
