[其他]一種隨機輪廓表面粗糙度校準樣塊及其制造方法

在審

• 申請號: 101985000002013
• 申請日: 1985-07-03
• 公開（公告）號: CN85102013B
• 公開（公告）日: 1988-04-20
• 發明（設計）人: 宋俊峰
• 申請（專利權）人: 宋俊峰
• 代理公司: 北京科技專利事務所
• 代理人: 郭佩蘭;谷勝斌

1、一種隨機輪廓表面粗糙度校準樣塊，它是帶有一個工作表面的長方形六面體塊，其工作表面中部的測量區域由若干呈周期性重復的單向隨機輪廓的表面組成，其特征是測量區域（2）的兩側或/和中間有一個以上的光滑參考基準平面（1），上述的測量區域（2）和光滑參考基準平面（1）之間的交界線對應單向隨機輪廓的起點。

2、按權利要求1所述的校準樣塊，其特征是上述的測量區域單向隨機輪廓的算術平均偏差Ra為0.015μm至1.5μm。

3、一種專用于制造權利要求1所述的隨機輪廓表面粗糙度校準樣塊的方法，其特征是采用研磨方法對上述的光滑參考基準平面和測量區域分別進行加工。

4、按權利要求3所述的制造方法，其特征是：

（1）用研磨的方法預加工上述樣塊的光滑參考基準平面;

（2）根據測量區域Ra值的不同，選擇適合粒度的研磨工具，在光滑參考基準平面的中部研磨出作為測量區域的單向隨機輪廓表面;

（3）采用開有兩條以上溝槽的研磨平臺沿導軌對單向隨機輪廓表面分段進行加工，以保證在不同法向截面內單向隨機輪廓均勻一致。

5、按權利要求4所述的制造方法，其特征是測量區域不同Ra值的加工還可以通過調節研磨壓力的大小進行控制。