[其他]特性曲線識別自校正控制器

在審

• 申請號: 101985000002894
• 申請日: 1985-04-15
• 公開（公告）號: CN1003402B
• 公開（公告）日: 1989-02-22
• 發明（設計）人: 湯瑪斯
• 申請（專利權）人: 福克斯保羅公司
• 代理公司: 中國專利代理有限公司
• 代理人: 許新根

1、用于控制系統的一種特性曲線識別自校正控制器設備，其中所述的控制器設備包括一個控制器，該控制器耦合到所述控制系統的一個閉環過程中，以控制具有設定點和測量值的過程控制變量，所述的控制器具有由至少一個工作參數確定的控制作用，因而控制器響應于所述設定點和測量值之差，所述控制器設備包括：響應于所述設定點和測量值之差，以產生一個閉環的特性信號的第一比較器裝置，其特征在于所述控制器設備還包括：

檢測器裝置，它根據該閉環特性信號，以測量其特性曲線的特征，并產生一個所述特性曲線特征的測量值;

第二比較器裝置，它與所述檢測器裝置相聯進行工作，用一預定的特性曲線特征的期望值與所述的測量值進行比較;以及

調節裝置，與所述第二比較器裝置相聯，用于響應該特性曲線特征的所述測量值與期望值之差，從而使測量值基本上與設定點值相一致，所述的調節裝置在所述的測量值與期望值之差小于一個給定的差值時，就不進行改變該控制器的所述工作參數的操作，所述調節裝置還包括校正改正裝置，用于通過一個與所述特性曲線特征的測量值和期望值、設定在控制器中所述工作參數的現在的值和一代表所述閉環的振蕩時間周期的周期值成正比的因子，改變所述工作參數。

2、如權利要求1所述的設備，其特征在于所述的特性曲線特征是阻尼，且所述的控制器是一PID型控制器，所述的因了也與Ziegler-Nichols比值成正比。

3、如權利要求1所述的設備，其特征在于所述的調節裝置以現在的周期進行工作，且所述的因子還與所述調節裝置的一個或多個以前工作周期中的值成正比。

4、如權利要求3所述的設備，其特征在于所述特性曲線特征是阻尼，且所述的控制器是一個PID型控制器，所述的因子也與Ziegler-Nichols比值成正比。

5、如權利要求1所述的設備，其特征在于所述的調節裝置也操作產生與所述工作參數的現在的值成正比的所述周期值。

6、如權利要求5所述的設備，其特征在于所述的調節裝置還包含一個用于調整所述周期值的Ziegler-Nichols比值。

7、如權利要求5所述的設備，其特征在于至少測量二個特征曲線特征，且所述的調節裝置還生產與所述二個特性曲線特征之差成正比的所述周期值。

8、如權利要求7所述的設備，其特征在于所述二個特性曲線特征是阻尼和超調量。

9、如權利要求1所述的設備，其特征在于所述的特性曲線特征包括一所述特性信號的局部極值的峰值振幅，和限在所述局部極值之后一點上的所述特性信號的一第二非峰值振幅，所述控制器設備還包括：

與上述控制裝置相聯，用于組合所述峰值和跟著的振幅，以產生所述特性曲線特征的一個測量值的裝置。

10、如權利要求9所述的設備，其特征在于所述的跟著的振幅是一個小于所述峰值振幅的規定值。

11、如權利要求10所述的設備，其特征在于所述自適應比的第一和第二給定值是Ziegler-Nichols比值。

12、如權利要求10所述的設備，其特征在于比例（P）系數的變化也與基于所述阻尼比的測量值和期望值與所述閉環特性的前一周期信息的給定的關系有關。

13、如權利要求12所述的設備，其特征在于所述比例（P）系數也是根據預定的關系而變化，該預定關系包括所述第一和第二自適應比、所述周期（To）、和存在于所述產生了正在被評價的閉環特性的設備的積分（I）系數和微分（D）系數的值。

14、如權利要求13所述的設備，其特征在于所述第一、第二和第三特征只是在如果第一特征的絕對值大于預定的噪聲水平時才進行測量。