[其他]礦物半導體檢測儀器在審
| 申請號： | 101985000003885 | 申請日： | 1985-05-07 |
| 公開（公告）號： | CN85103885B | 公開（公告）日： | 1988-12-07 |
| 發明（設計）人： | 趙亨達 | 申請（專利權）人： | 遼寧省地質實驗研究中心 |
| 主分類號： | 分類號： | ||
| 代理公司： | 遼寧專利事務所 | 代理人： | 李宗津 |
| 地址： | 遼寧省沈*** | 國省代碼： | 遼寧;21 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 礦物 半導體 檢測 儀器 | ||
【權利要求書】：
1、一種用于檢測礦物半導體的儀器，由機架、試樣裝載臺、測試電極、信號放大器和示波器組成，其特征在于試樣裝載臺上裝有與試樣構成肖特基結構的上、下電極，其中一個電極裝有對其加熱的裝置，另一電極裝有對其冷卻的裝置，加熱裝置中裝有用以控制溫度的測溫傳感熱敏元件。
2、如權利要求1所述的儀器，其特征在于試樣臺上的電極之一可更換為導電橡膠或導電樹脂制成的電極。
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