[其他]用磁測(cè)試盤檢測(cè)盤式驅(qū)動(dòng)裝置誤差信號(hào)的方法和裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 101985000004843 | 申請(qǐng)日: | 1985-06-24 |
| 公開(公告)號(hào): | CN1005298B | 公開(公告)日: | 1989-09-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 克勞斯;休伯;哈克;舒爾策·伯奇;索特 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | BASF公司 |
| 主分類號(hào): | 分類號(hào): | ||
| 代理公司: | 中國專利代理有限公司 | 代理人: | 蕭**昌;李先春 |
| 地址: | 聯(lián)邦德國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測(cè)試 檢測(cè) 驅(qū)動(dòng) 裝置 誤差 信號(hào) 方法 | ||
1、一種檢測(cè)包括有一磁頭定位系統(tǒng)磁盤驅(qū)動(dòng)裝置(19)的誤差信號(hào)的方法,這種方法采用一個(gè)磁測(cè)試盤(15),測(cè)試盤有多個(gè)測(cè)試磁道(S),磁道上記錄有測(cè)試信號(hào)(TS),測(cè)試磁道位于記錄磁道上,并分布在測(cè)試盤的記錄區(qū)域,至少有一個(gè)測(cè)試磁道預(yù)先確定為基準(zhǔn)測(cè)試磁道(SR),可以讀出上述測(cè)試磁道(S)中的測(cè)試信號(hào)(TS),并可確定讀出信號(hào)離開要求的位置和幅度的偏移量,從而得出平均值,在常規(guī)狀態(tài)下,測(cè)試信號(hào)(TE)由調(diào)節(jié)信號(hào)(4、5和8、9)和方向信號(hào)(1至3)組成,調(diào)節(jié)信號(hào)被交替地記錄在記錄磁道的中心線(18)的兩邊,并具有同樣的幅度,方向信號(hào)將上述的調(diào)節(jié)信號(hào)(4、5和8、9)分成若干組(Ⅰ至Ⅵ),而它們的幅度與調(diào)節(jié)信號(hào)的不同,其特征在于,
-在每一組(Ⅰ至Ⅵ)調(diào)節(jié)信號(hào)(4、5和8、9)內(nèi),它們的實(shí)際位置和實(shí)際幅度是確定的,由此可以導(dǎo)出一組信號(hào)的平均值,
-每個(gè)單獨(dú)的測(cè)試磁道(S)的組平均值用來計(jì)算磁道的平均值,后者將被儲(chǔ)存起來,
-所述測(cè)試磁道(S)的磁道平均值用來計(jì)算總平均值(IM),總平均值亦儲(chǔ)存起來。
2、根據(jù)權(quán)利要求1所說的方法,其特征在于,當(dāng)驅(qū)動(dòng)裝置是有一步進(jìn)電動(dòng)機(jī)定位系統(tǒng)(11)時(shí),測(cè)試磁盤(15)上的測(cè)試磁道(S)的位置剛好跟特定步進(jìn)電動(dòng)機(jī)的相位數(shù)不一致。
3、根據(jù)權(quán)利要求2所說的方法,其特征在于,當(dāng)驅(qū)動(dòng)裝置是有一4相步進(jìn)電動(dòng)機(jī)定位系統(tǒng)(11)時(shí),可以每隔兩個(gè)記錄磁道讀出和算出測(cè)試信號(hào)(TS)。
4、根據(jù)權(quán)利要求2所說的方法,其特征在于,當(dāng)驅(qū)動(dòng)裝置是3相步進(jìn)電動(dòng)機(jī)定位系統(tǒng)(11)時(shí),可以每隔三個(gè)記錄磁道讀出和算出測(cè)試信號(hào)(TS)。
5、根據(jù)權(quán)利要求2所說的方法,其特征在于,當(dāng)驅(qū)動(dòng)裝置是3相或4相步進(jìn)電動(dòng)機(jī)定位系統(tǒng)(11)時(shí),可以每隔一個(gè)記錄磁道或每隔兩個(gè)記錄磁道讀出和算出同一測(cè)試磁盤(15)上測(cè)試信號(hào)(TS)。
6、根據(jù)權(quán)利要求1或2或3或4或5的方法,其特征在于,從規(guī)定的頭一個(gè)測(cè)試磁道,特別是前述的基準(zhǔn)測(cè)試磁道(SR)開始,在第一個(gè)方向上逐漸增加或減少磁道數(shù),便可讀出和連續(xù)處理測(cè)試信號(hào)(TS),然后把讀數(shù)的方向轉(zhuǎn)向相反方向,在第二個(gè)方向上讀出和連續(xù)處理測(cè)試磁道的測(cè)試信號(hào)(TS),再用兩個(gè)方向上的平均值的總和求出總平均值(IM)。
7、根據(jù)權(quán)利要求1或6的方法,其特征在于,從基準(zhǔn)測(cè)試磁道(S)的磁道平均值中減去已儲(chǔ)存的總平均值,剩下的平均值被顯示和/或用作基準(zhǔn)測(cè)試磁道(SR)上的磁頭位置修正。
8、根據(jù)權(quán)利要求1所說的方法,其特征在于,儲(chǔ)存的磁道平均值和總平均值(IM),至少用來修正磁頭定位系統(tǒng)。
9、根據(jù)權(quán)利要求1或2或3或4的方法中的磁測(cè)試盤,其特征在磁測(cè)試盤由多個(gè)測(cè)試磁道(S)組成,這些測(cè)試磁道被每隔兩個(gè)或每隔三個(gè)記錄磁道記錄下來,并均勻地分布在測(cè)試盤(15)的記錄區(qū)上。
10、根據(jù)權(quán)利要求1或2或3或4所說的方法中的磁測(cè)試盤,其特征在于至少在部分記錄區(qū)內(nèi),按照每隔一個(gè)記錄磁道再每隔兩個(gè)記錄磁道交替地記錄下測(cè)試磁道(S)。
11、在一包括有一個(gè)磁頭定位系統(tǒng)的磁盤驅(qū)動(dòng)中用以檢測(cè)誤差信號(hào)的裝置,其特征在于,它包括一個(gè)電路部件,其中有一控制部件(用以控制3-磁道、4-磁道或2-磁道的掃描周期),一個(gè)計(jì)算器(被連接到掃描磁頭),一個(gè)供平均值信號(hào)用的平均值計(jì)算器和存儲(chǔ)器,以及一個(gè)供總平均值(IM)用的顯示器和/或?qū)懭氪鎯?chǔ)器。
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