[其他]狀態分析的方法和裝置

在審

• 申請號: 101985000004863
• 申請日: 1985-06-25
• 公開（公告）號: CN85104863B
• 公開（公告）日: 1988-05-04
• 發明（設計）人: 副島啟義
• 申請（專利權）人: 株式會社島津制作所
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利代理部
• 代理人: 吳磊

1、分析樣品中某種元素狀態的方法的特征是該方法包括下列步驟：

用激發源去激發元素;

探測根據被分析元素狀態預先選擇的兩個波長上測量點產生的特征X射線強度;

比較某些測量點在兩個波長上特征X射線強度比，規定了落在根據元素的狀態而選擇的范圍內的強度比;以及

輸出僅在上述這些測量點探測到的狀態探測信號，以便獲得線分析或一個二維掃描圖象。

2、根據權利要求1所述的方法，其中，所說兩個波長是由相應峰值強度的第一個波長和偏離第一波長約小于半個寬度位置的第二波長組成，并且由下述關系決定了范圍：

I₁≥αβ₁I₂ 或

I₁＜αβ₁I₂

式中I₁：在第一波長處特征X射線的強度，

I₂：在第二波長處特征X射線的強度，

α：代表光譜儀靈敏度的因子，

β₁：代表波長移動量的因子。

3、根據權利要求1的方法，其中所述的兩個波長是由相應于兩個相關峰其中之一的峰值強度的第一波長和相應于兩個相關峰的另一個峰值強度的第二波長組成，并且由下述關系決定了范圍：

I₁≥αβ₂I₂或

I₁＜αβ₂I₂

這里，I₁：在第一波長處的特征X射線強度;

I₂：在第二波長處的特征X射線強度;

α：代表光譜靈敏度的因子;

β₂：代表相關峰之間強度比的因子。

4、根據權利要求1所述的方法，其中所說兩個波長是由在長波側的第一波長和在短波側的第二波長組成，它們在一個單峰強度兩邊約小于半個寬度的位置處，并且范圍由下列關系決定：

I₁＜αβ₃I₂

I₁＝αβ₃I₂或

I₁＜αβ₃I₂

這里，I₁：為第一波長處特征X射線的強度;

I₂：為第二波長處特征X射線的強度;

α：代表光譜儀靈敏度的因子;

β₃：代表特征X射線譜非對稱性的因子。

5、分析樣品中元素狀態的裝置的特征是該裝置包括：