[其他]狹縫X射線照像裝置在審
| 申請號: | 101985000006558 | 申請日: | 1985-08-31 |
| 公開(公告)號: | CN1003819B | 公開(公告)日: | 1989-04-05 |
| 發明(設計)人: | 西蒙·杜英克;雨果·夫拉斯布勞姆 | 申請(專利權)人: | 老代爾夫特光學工業有限公司 |
| 主分類號: | 分類號: | ||
| 代理公司: | 中國國際貿易促進委員會專利代理部 | 代理人: | 張衛民 |
| 地址: | 荷蘭.代爾夫特*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 狹縫 射線 裝置 | ||
狹縫X線照像裝置包括經狹縫闌對受射物體用基本為平面扇形的X線來進行掃描的X線源,穿過物體的X線束照射到X線檢測器上本裝置包括與光闌協同動作的多個可控衰減元件,每一元件能在輻射檢測裝置產生的信號控制下影響X線束的一部分輻射檢測裝置位于受射物和X線檢測器之間,其中包括至少一個始終伸入穿過物體的X線束中并與其掃描運動同步動作的輻射檢測器。該檢測器分成多個部分以與衰減元件影響的X線束各部分對應,工作時每部分產生控制衰減元件的信號。
本發明涉及一種用于狹縫X射線照象的裝置,其中包括一個X射線源,利用該X射線源可將一個基本上平面的扇形X射線束通過一個狹縫光闌對接受輻射的物體進行掃描,同時通過該物體的掃描X射線束照射在一個X線檢測器上。
在共同未決(copending)的荷蘭專利申請8400845號中對這種包括與狹縫光闌協同工作的可控衰減元件的裝置進行了描述,該專利申請在此引用做為參考。荷蘭專利申請8400845號中說明了產生衰減元件所需控制信號的幾種方法。荷蘭專利申請8400845號中所說明的大多數情況下,為了達到這一目的,使用了一系列安置在所采用的X線檢測裝置出口一側的光線檢測器,每一光線檢測器與狹縫光闌的一個部分相對應,并且通過控制裝置控制該部分與衰減元件的協同動作,或者是控制該部分與一組衰減元件協同動作。
然而,在利用不透光的X線膠片暗盒作為X射線檢測器時,不能以一種簡單的方式來應用這種技術。
因此,本發明的一個目的是設計一種狹縫X射線照像裝置,其中包括與一個狹縫光闌協同工作的可控衰減元件,其協同方式為,即使采用了不透光的X射線膠片暗盒,仍可用一種相對簡單并且可靠的方式獲得衰減元件所需的控制信號。
為了達到這一效果,根據本發明,上述類型裝置的特征在于;包括與狹縫光闌協同動作的多個可控衰減元件,每個元件被用于在由輻射檢測裝置所產生的信號的控制之下,對X射線掃描束的一個部分施加影響;該輻射檢測裝置被置于接受輻射的物體與X射線探測器之間;該輻射檢測裝置包括至少一個在任何時刻都探伸到穿透物體的掃描X線束之中,并與該X線束的掃描運動同步動作的輻射檢測器,該輻射檢測裝置被分為與可由衰減元件影響的掃描X線束的各節段相對應的部分,工作時,輻射檢測器的每一部分產生出一個可用于控制衰減元件的信號。
可以看出,本發明即可用于使用不透光X射線膠片暗盒的情況,也可用于使用任何其它類型X射線探測器的場合。
以下將參照附圖,舉例對根據本發明的裝置的幾個實施方案予以說明,在附圖中:
圖1示意性地示出根據本發明的裝置的第一實施方案;
圖2示意性地示出圖1的一種變化形式;
圖3示出圖2的另一種變化形式;
圖4示出圖3的一種修改形式;和
圖5示出圖4的一種修改形式。
圖1示意性地示出本發明的第一實施方案,其中顯示了具有X射線焦點2的X射線源1。在工作中,X射線源產生X射線束B,其中基本上為平面扇形的一部分B1幾乎都能穿過狹縫光闌3上的狹縫S。另外,圖中示出接受輻射的物體4和置于該物體之后的一個X射線檢測器5,該檢測器5安裝在一個未示出的外殼之中。該X射線檢測器可以是任何常規類型,但在本實施方案中是由一個不透光的X射線膠片暗盒構成,其中包括一個X射線熒光屏6和置于其后的X射線膠片7。在某些X射線膠片暗盒中,X射線膠片之后還安裝了第二個X射線熒光屏,除了這種膠片暗盒,也可采用具有大輸入屏幕的靜態X射線圖象增強管或采用具有窄條式輸入屏的X射線圖象增強管。在后一種情況中,X射線圖象增強管在工作中執行掃描運動。
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