[其他]光學傳感裝置

在審

• 申請號: 101985000007527
• 申請日: 1985-10-14
• 公開（公告）號: CN85107527B
• 公開（公告）日: 1988-09-28
• 發明（設計）人: 井田芳明
• 申請（專利權）人: 三菱電機株式會社
• 代理公司: 中國專利代理有限公司
• 代理人: 林長安

1、一種光學傳感裝置，包括：第一光源和第二光源;第一光電探測器和第二光電探測器;第一光纖和第二光纖;和一偏振光束分束器，其特征在于，該裝置還包括：一用來接收第一光源發出的光線并將第一光電探測器置于其輸出端的第一分束器;一用來接收第二光源發出光線并將第二光電探測器置于其輸出端的第二分束器;分別通過所述第一和第二光纖與上述第一和第二分束器的另一個輸出端耦合的光學傳感器，上述光學傳感器包括：相對于所述第一和第二光纖按下述次序排列的一個起著起偏振鏡的作用的所述偏振光束分束器、一個調制器元件、一個全反射鏡;用來交替地接通上述第一和第二光源的驅動電路;一個除法器，當上述第一光源接通時，該除法器確定上述第一和第二光電探測器的第一個輸出比，而當上述第二光源接通時，該除法器確定上述第一和第二光電探測器和第二個輸出比;及用來計算上述第一輸出比和第二輸出比之間的比值，從而提供一個與被測的量成比例的輸出的裝置。

2、根據權利要求1所述的光學傳感裝置，其特征在于當它用來測量電場或電壓時，其中上述調制器元件包括：氧化鍺鉍元件和氧化硅鉍元件之一，以及放在上述起偏振鏡和上述調制器元件之間的1/8波片。

3、根據權利要求1所述的光學傳感裝置，其特征在于當它用來測量磁場或電流時，其中上述的調制器元件包括：氧化鍺鉍元件和氧化硅鉍元件之一，該元件的長度要這樣確定，以使偏振面能旋轉45°。

4、根據權利要求1所述的光學傳感裝置，其特征在于當它用來測量壓力或位移時，其中，上述的調制器元件包括：一個具有光測彈性效應的材料實體，還包括一個插在上述起偏振鏡和上述調制器元件之間的1/8波片。

5、根據權利要求1所述的光學傳感裝置，其特征在于上述的調制器元件包括法拉第元件和普克爾元件中的一個。

6、根據權利要求1所述的光學傳感裝置，其特征在于上述的分束器由一個偏振光束分束器組成。

7、一種光學傳感裝置，包括：第一光源和第二光源;第一光電探測器和第二光電探測器;第一光纖和第二光纖;和一偏振光束分束器;其特征在于，該裝置還包括：一用來接收第一光源發出的光線并將第一光電探測器置于其輸出端的第一分束器;一與上述第一分束器的另一端耦合，并通過所述第一光纖接收從該第一分束器射出的光線的光學傳感器，上述光學傳感器包括：相對于所述第一光纖按下述順序排列的一個起著偏振鏡作用的所述偏振光束分束器;一個調制器元件和一個半鍍銀反射鏡;一通過所述第二光纖、與處在上述調制器元件對邊的上述半鍍銀反射鏡的一表面光學耦合的第二分束器，而該第二分束器的另一個輸出端則設置該第二光電探測器，該第二分束器也接收第二光源發射出的光;用來交替地接通上述第一和第二光源的驅動電路;一個除法器，當上述第一光源接通時，該除法器確定上述第一和第二光電探測器的第一個輸出比，而當上述第二光源接通時，該除法器確定上述第一和第二光電探測器的第二個輸出比;及用來計算上述第一輸出比和第二輸出比之間的比值，從而提供一個與被測的量成比例的輸出的裝置。

8、根據權利要求7所述的光學傳感裝置，其特征在于當它用來測量電場或電壓時，其中，上述的調制器元件包括：氧化鍺鉍元件和氧化硅鉍元件之一;以及一個放在上述起偏振鏡和上述調制器元件之間的1/8波片。

9、根據權利要求7所述的光學傳感裝置，其特征在于當它用來測量磁場或電流時，其中，上述的調制器元件包括：氧化鍺鉍元件和氧化硅鉍元件之一，該元件的長度要這樣確定，以使偏振面能旋轉45℃。

10、根據權利要求7所述的光學傳感裝置，其特征在于當它用來測量壓力或位移時，其中，上述的調制器元件包括：一個具有光測彈性效應的材料實體，還包括一個插在上述起偏振鏡和上述調制器元件之間的1/8波片。

11、根據權利要求7所述的光學傳感裝置，其特征在于上述的調制器元件包括法拉第元件和普克爾元件中的一個。

12、根據權利要求7所述的光學傳感裝置，其特征在于上述的分束器由一個偏振光束分束器組成。