[其他]試驗彩色陰極射線管面板組合件的方法

在審

• 申請號: 101985000007550
• 申請日: 1985-10-08
• 公開（公告）號: CN1004952B
• 公開（公告）日: 1989-08-02
• 發明（設計）人: 詹姆斯·瑞基斯·馬提
• 申請（專利權）人: RCA許可公司
• 代理公司: 中國專利代理有限公司
• 代理人: 吳秉芬

1、一種在把所說的組件的屏盤（12）密封到彩色陰極射線管的漏斗部分以前，測試彩色射線管的屏組件（10）的方法，以期發現組件中的缺陷，此缺陷包括帶孔蔭罩（16）的凹痕和錯位，此蔭罩貼近熒光屏（14）安裝在所說的屏盤上，其特征在于，此種方法包括下列各步驟：

使熒光屏曝露于通過蔭罩孔（32）的輻射，此種輻射含有紫外線但大體上不含可見光輻射;以及

查驗熒光屏所發射的光的彩色變化，此種彩色變化表示組件中的缺陷。

2、根據權利要求1所述的方法，其特征在于，實施曝光的步驟為：

將屏組件（10）定位在一曝光臺（28）上，此曝光臺具有一輻射源（30），此輻射源發射紫外線及可見光兩種輻射;濾去來自輻射源的可見光輻射。

3、根據權利要求2所述的方法，其特征在于，實施濾波的步驟是使輻射通過一透過紫外線而吸收可見光的濾波器（82）。

4、根據權利要求3所述的方法，其特征在于，用將此透過紫外線而吸收可見光的濾波器（82）裝在曝光臺（28）的透鏡組件內來完成上述工序。

5、根據權利要求3所述的方法，其特征在于，輻射源為一水銀蒸氣燈（30）。

6、根據權利要求3所述的方法，其特征在于，用相對于屏組件（10）移動可見光和紫外線輻射路徑的方法來檢測蔭罩（16）的任何錯位。

7、根據權利要求6所述的方法，其特征在于，實施此種移動步驟的方法為振動輻射源（30）的視在位置，同時監視屏盤（12）上幾個位置處的光線強度。

8、根據權利要求3所述的方法，其特征在于，檢驗步驟系由操作員觀察熒光屏（14）予以實現。

9、根據權利要求8所述的方法，其特征在于，觀察步驟系在一環境光照較弱的封閉體中加以實現。

10、根據權利要求9所述的方法，其特征在于，還包含一檔住曝光臺（28）中的輻射源（30）來的并繞過濾波器（82）的散射光到達屏組件（10）的步驟。