[其他]膠合板表面缺陷探測頭

在審

• 申請號: 101985000009002
• 申請日: 1985-10-29
• 公開（公告）號: CN85109002B
• 公開（公告）日: 1988-09-21
• 發明（設計）人: 巖本裕彥
• 申請（專利權）人: 株式會社名南制作所
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利代理部
• 代理人: 包冠乾;盧寧

一種膠合板表面缺陷探測頭。它包括有：一遮光板，此遮光板以其前端與膠合板的一表面接觸，并在它上面滑動；一光源，裝置在遮光板的一側；一光學纖維，裝置在遮光板的另一側。光學纖維是這樣裝置的；它的一端連同遮光板一起與膠合板表面相接觸，并在它上面滑動，而它的另一端則對準一光探測器。

本發明涉及一種膠合板表面缺陷探測頭，可用于探測出原板材上的各種缺陷，例如，存在于膠合板表面上的節孔、蟲孔、裂縫以及類似的缺陷。

在上述領域內的實際情況，是靠工人以目檢的辦法來確認前述的各種缺陷。本發明的申請人在其先前的日本專利申請№59-188649中，曾提出過一種探測器，可用于探測板形件表面的凹形缺陷。此探測器有一遮光件，此遮光件以其前端與板形件接觸并在它上面滑動，還有一拖動系統，可使遮光件與板形件之內產生相對移動，一光源裝置于遮光件的一側，許多個光接收元件裝置于遮光件的另一側，它們之內有一定的間隔，間隔是根據探測和分辯能力來確定的，還有一個控制電路，是為探測出板形件上的凹形缺陷設計的，此電路進行工作所依據的是，當遮光件和板形件之間產生了相對運動，并當遮光件位于凹形部位時，自光源射出的光線將經過板形件表面上的凹形部位，再射向光接受之件。

由工人進行目檢存在這樣一些問題，如探測精度不穩定，工作效率低，成本高等等。

還有，如上述的日本專利申請№59-188649所說明的那樣，探測器具有這樣的結構，即在遮光件的另一側裝置有許多個光接受元件。可根據由相應的光接收元件所接受的光線情況（這些光線經過了凹形缺陷）將凹形缺陷探測出來。但是，光線在通過凹形缺陷時，即在到達相應的光接收元件及其鄰近的光接收元件之前，經常都散射了。因此，不能極精確地將凹形缺陷所在的部位探測出來。還有，由于光散射將使光量減少。由于上述原因，由相應的元件進行探測的方法具有很多困難。

在美國專利US-A-3600591和德國專利DE-2534023C2中分別公開了一種表面缺陷檢測裝置，在這些裝置中，由于其光接收元件（或探測頭）不與被測物表面接觸，同樣產生了光被散射掉以及探測頭上會粘附細小塵粒物而影響接受光的能力等問題。

已實現的本發明的目標是克服先有技術中固有的問題。所以，本發明的總目標是提出一種用于探測膠合板表面上凹形缺陷的裝置。借助這種裝置，可使光線在到達光探測器，例如光接收元件之前不產生散射，因而可極好地分辯出板形件表面上的凹形缺陷，并能在很長的時間中具有穩定的探測能力。

為了實現上述目標，重要的是提出了一種膠合板表面缺陷探測頭。它有一個遮光板，其前端與膠合板表面接觸，并在它上面滑動。在遮光板的一側安裝有一光源，在它的另一側安置有光學纖維。此光學纖維是這樣安置的，它的一個端頭與遮光板一起與膠合板表面接觸并在表面上滑動，而另一端頭則對準一光探測器。

根據本發明，遮光板的前端與光學纖維的端頭一起，依據探測頭與膠合板表面需有相對運動的原則，與膠合板表面接觸并在它上面滑動。當遮光板通過膠合板上存在有凹形缺陷的部位時，由光源射出的光線將通過此缺陷并立即自光學纖維的端頭處射入到光學纖維之中。與此同時，光學纖維的另一端頭將光線射向光探測器。

從下述的實施方案及附圖的詳細說明中，可對發明本身、其優點以及發明的其他目標有更好的了解。

圖1所示為根據本發明一個最佳實施方案所設計的膠合板表面缺陷探測頭的透視圖;

圖2所示為圖1的一部分的放大圖，它對本發明是重要的;

圖3所示為與圖2相似的另一個放大圖，是屬于另一經過改動的實施方案的，其中的光學纖維的一個端頭不與膠合板的表面接觸，也不在它上面滑動;

圖4所示為與圖2相似的另一個放大圖，是屬于另一個經過改動的實施方案的，比圖2多加了一個磨損控制板;

圖5所示為與圖2相似的另一個放大圖，但所示出的是一不希望有的例子，僅為說明用;

圖6所示為將本發明實施于一寬度較大的膠合板上時的示意平面圖;

圖7為圖6的側視圖;

圖8所示為一光學纖維端頭的前視圖;