[其他]測試微區腐蝕電位電流密度分布的掃描裝置

在審

• 申請號: 101986000003043
• 申請日: 1986-04-28
• 公開（公告）號: CN1003808B
• 公開（公告）日: 1989-04-05
• 發明（設計）人: 田昭武;林昌健;卓向東
• 申請（專利權）人: 廈門大學
• 代理公司: 廈門大學專利事務所
• 代理人: 馬應森

1、測試微區腐蝕電位電流密度分布的掃描裝置，由自動平面掃描機械裝置、X-Y掃描信號控制電路和驅動電路組成，設有兩個微參比電極，采用兩臺微型步進電機通過給定的脈沖，分別控制樣品和微參比電極，X-Y掃描信號控制電路由脈沖發生器、計數器、觸發器和門電路組成，驅動電路由環形分配器CH250和功放級組成，其特征是

（a）兩根微參比電極固定在一起，其尖端位于垂直于樣品表面的同一直線上，距離為300～600微米，尖端離被測樣品小于30微米;

（b）自動掃描過程由微計算機中的CPU通過可編程并行I/O接口PPI控制，PPI的輸出控制信號控制CTC向x、y軸兩步進電機提供脈沖信號的分配。

2、如權利要求1所述的掃描裝置，其特征是兩根微參比電極的尖端距離為350～450微米，尖端離被測樣品小于10微米。