[其他]光學巖組儀

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 101986000007175
• 申請日: 1986-11-01
• 公開（公告）號: CN1003738B
• 公開（公告）日: 1989-03-29
• 發(fā)明（設計）人: 朱中一
• 申請（專利權）人: 武漢地質學院
• 代理公司: 中國地質大學（武漢）專利事務所
• 代理人: 葛立剛;胡圣虹

本發(fā)明的光學巖組儀由費氏臺、彩色攝像機、視頻板、電視監(jiān)測器、微機和輸出設備組成。在費氏臺物臺上裝有薄片平移器，在費氏臺顯微鏡試板孔中插有一塊萬能試板。本發(fā)明采用定量晶體光學理論計算和最小二乘法擬合、提高了巖組測量精度和速度，一般可在２０～６０分鐘內自動繪出巖組圖。另外，還可進行礦物粒度測量和百分含量統(tǒng)計。

一種測定巖石巖組的光學巖組儀。

現有測定巖組的一般方法是顯微鏡測量、費氏臺測量和X光-巖組儀測量。顯微鏡測巖組，需要兩塊互相垂直的定向薄片，恢復空間優(yōu)選方位，用肉眼逐粒測定，測定一塊巖石薄片需用10小時左右，只能手工成圖，測定速度慢。費氏臺測巖組，需前一塊定向巖石薄片，只能逐一測量每個顆粒的空間角度，由于靠肉眼測量，手工成圖，速度慢，且技術要求高。X光-巖組儀測巖組需要一至三塊定向薄片，需要二至三小時，可以手工成圖和計算機成圖，儀器價格昂貴。成都地質學院李之權等研制成功的JGT型計算機光筆式圖象分析儀（見成都地質學院學報1982年第四期）由攝像機、顯微鏡、視頻箱和微機組成，其動能是進行礦物粒度測量和百分含量統(tǒng)計，但不能測量巖組。

設計一種能快速測定巖組，操作簡單，測量精度高能計算機成圖的光學巖組儀是本發(fā)明的目的。

本發(fā)明的光學巖組儀由費氏臺（1）、彩色攝像機（2）、視頻板（3）、電視監(jiān)測器（4）、微機（5）和輸出設備（6）連接組成。在費氏臺（1）壓片孔螺絲上安裝有薄片平移器（7），費氏臺（1）顯微鏡試板孔中插有一塊萬能試板。其組合關系是：費氏臺（1）鏡筒頂部口上接彩色攝像機（2），彩色攝像機（2）視頻輸出口（17）接視頻板視頻輸入口（18），視頻板（3）視頻輸出口（19）接在電視監(jiān)測器（4）上，視頻板（3）整體插入微機（5）總接線槽中，微機（5）連接輸出設備（6）。其原理是根據定量晶體光學理論把視域內的圖象分解成上萬個象素，每個象素當做一個顆粒，經過彩色攝像機（2）轉變成電視訊號，由視頻板（3）將電視訊號轉變成數字，再由微機（5）對數字進行處理，然后由輸出設備（6）自動繪出巖組圖。

薄片平移器（7）由環(huán)形薄板（8）和U形框架（9）組成，環(huán)形薄板（8）上安有二根固定針（10）和平移螺絲（11），并開有二個固定孔（12），環(huán)形薄板（8）和U形框架（9）可由金屬或有機材料一次壓成。萬能試板（13）上有三塊試板，第一試板（14）選用石英或石膏材料制成，光程差為550毫微米左右，第二試板（15）選用石膏或白云母材料制成，光程差為1100毫微米左右;第三試板選用方解石材料制成，光程差為2500～3000毫微米左右，上述三個試板厚度在0.02-0.07毫米之間，萬能試板（13）框架可由金屬或有機材料一次壓成。

附圖1.光學巖組儀組合示意圖。

附圖2.薄片平移器平面圖。

附圖3.萬能試板平面圖。

附圖說明：

1.費氏臺

2.彩色攝像機

3.視頻板

4.電視監(jiān)視器

5.微機

6.輸出設備

7.薄片平移器

8.環(huán)形薄板

9.U形框架

10.固定針

11.平移螺絲

12.固定孔

13.萬能試板

14.第一試板

15.第二試板

16.第三試板

17.彩色攝像機視頻輸出口

18.視頻板視頻輸入口

19.視頻板視頻輸出口

實施例1