[其他]微波吸收材料的復介電常數和復磁導率的測試方法及系統

在審

• 申請號: 101987000007345
• 申請日: 1987-12-07
• 公開（公告）號: CN1004173B
• 公開（公告）日: 1989-05-10
• 發明（設計）人: 倪爾湖;施鐵矛;張志鳴;沈建華
• 申請（專利權）人: 浙江大學
• 代理公司: 浙江大學專利代理事務所
• 代理人: 張法高

1、一種微波吸收材料的復介電常數和復磁導率的測試方法為：測量待測樣品的兩個散射系數S₁₁和S₂₁，用下列公式計算該樣品的材料復磁導率μ和復介電常數ε：

測量S₁₁和S₂₁步驟為：

a、測量待測樣品的厚度1;

b、測量微波信號的波長λ₀;

其特征在于還包括以下步驟：

c、將上述微波信號分成兩路，一路沿與待測樣品厚度方向成小于90°角的方向向樣品入射，另一路進行幅度衰減獲得參考信號，再與樣品上的反射信號進行干涉、比對，調節衰減量達到駐波節點的最小電平，測得衰減量A_ri和駐波節點的位置P_ri;

d、在與樣品前平面同位置處裝上短路板，將它的反射信號與參考信號進行干涉、比對，調節衰減量達到駐波節點的最小電平，測得對反射定標的衰減量A_ro和駐波節點的位置P_ro;

e、計算衰減量的變化A_r＝A_ri-ro和駐波節點的移動：

P_r＝P_ro-P_ri+nλ_g/2＜λ_g/2，n＝0，1，2……，

其中λ_g＝，式中λ_c是截止波長，

獲得散射系統S₁₁;

f、將來自上述待測樣品的透射信號與上述參考信號進行干涉、比對，調節衰減量達到駐波節點的最小電平，測得衰減量A_ti和駐波節點的位置P_ti;

g、將無樣品狀態下的透射信號與上述參考信號進行干涉、比對，調節衰減量達到駐波節點的最小電平，測得對透射定標的衰減量A_to和駐波節點的位置P_to;

h、計算衰減量的變化A_t＝A_ti-A_to和駐波節點的移動;

P_t＝P_ti-P_to，獲得散射系數S₂₁：

2、一種微波吸收材料的復介電常數和復磁導率的測試系統包括：

a、微波信號單元，由相繼連接的微波信號源〔1〕、第一隔離器〔2〕、第一定向耦合器〔3〕、第二隔離器〔4〕、第二定向耦合器〔5〕和第一匹配負載〔6〕組成;所述第一定向耦合器〔3〕輸出參比信號〔Ⅰ〕，第二定向耦合器〔5〕輸出源信號〔Ⅱ〕;其特征在于，它還包括：