[發(fā)明專利]背光式數(shù)粒裝置

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210080197.5
• 申請(qǐng)日: 2012-03-16
• 公開（公告）號(hào): CN102608018A
• 公開（公告）日: 2012-07-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 韓永建;蔣富強(qiáng)
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 安徽省科億信息科技有限公司
• 主分類號(hào): G01N15/14
• 分類號(hào): G01N15/14
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

[技術(shù)領(lǐng)域]

本發(fā)明涉及光電數(shù)粒技術(shù)，尤其涉及一種背光式數(shù)粒裝置。

[背景技術(shù)]

電子數(shù)片機(jī)采用先進(jìn)的PLC可編程控制技術(shù)，集數(shù)字技術(shù)、現(xiàn)代傳感技術(shù)、微機(jī)控制技術(shù)、網(wǎng)絡(luò)技術(shù)于一體，實(shí)現(xiàn)人機(jī)對(duì)話界面，操作方便可靠。自動(dòng)完成理瓶、計(jì)數(shù)、灌裝、輸瓶等工序，廣泛適用于醫(yī)藥、化工、食品行業(yè)的藥片、丸、粒、軟硬膠囊及特形片的灌裝。

按照工作原理的不同，數(shù)粒技術(shù)可分為三代，即第一代的機(jī)械數(shù)粒，第二代的光電數(shù)粒和第三代的靜電場(chǎng)式數(shù)粒。其中第三代靜電場(chǎng)數(shù)粒技術(shù)在國外仍處于研發(fā)階段，技術(shù)的成熟度和穩(wěn)定性有待觀察，因此國內(nèi)使用的數(shù)粒技術(shù)以第一代和第二代為主，其中采用第二代光電式數(shù)粒技術(shù)大型制藥企業(yè)越來越多。

第一代機(jī)械式數(shù)粒技術(shù)根據(jù)機(jī)械模板的形式、整機(jī)工作原理不同，又可分為轉(zhuǎn)盤式、履帶(條板)式兩大類。機(jī)械式數(shù)粒的工作原理，是在各種材料(以不銹鋼和各種塑料居多)上預(yù)制一定數(shù)量、大小的孔槽形成模板，藥品顆粒逐一填充進(jìn)模板上孔槽中，進(jìn)行藥品顆粒數(shù)粒，數(shù)粒完成的藥品通過漏斗裝瓶。

目前先進(jìn)的機(jī)械式數(shù)粒機(jī)，數(shù)粒速度可達(dá)到200瓶/分鐘，并且可通過一些在線的檢測(cè)方法將數(shù)粒的精度提高到99％以上。由于機(jī)械數(shù)粒技術(shù)原理的局限，因此愈來愈不適應(yīng)現(xiàn)代多品種、小批量的藥品生產(chǎn)模式而被更先進(jìn)的數(shù)粒技術(shù)所取代。

第二代光電數(shù)粒技術(shù)上世紀(jì)70年代末首先在歐美等發(fā)達(dá)國家應(yīng)用，技術(shù)核心之一是安裝有一對(duì)發(fā)射、接收紅外線傳感器的數(shù)粒檢測(cè)通道，當(dāng)顆粒通過檢測(cè)通道時(shí)，發(fā)射傳感器發(fā)射的紅外線被遮擋，接收傳感器即可檢測(cè)到接收紅外線信號(hào)的脈沖變化。變化的脈沖通過一般是儲(chǔ)存于可編程控制器(PLC)內(nèi)的應(yīng)用程序和模型，通過特定算法對(duì)脈沖信號(hào)識(shí)別、判斷，確定通過顆粒的特性，即可完成一次合格藥品或次品的計(jì)數(shù)。因此，光電數(shù)粒技術(shù)經(jīng)過20余年的發(fā)展，在歐美等發(fā)達(dá)地區(qū)的制藥企業(yè)得到了廣泛的使用。

光電式檢測(cè)計(jì)數(shù)技術(shù)是現(xiàn)階段得到廣泛使用的最新的檢測(cè)計(jì)數(shù)技術(shù)。光電式檢測(cè)計(jì)數(shù)技術(shù)主要是依靠紅外線傳感器發(fā)射出的光線檢測(cè)在檢測(cè)通道中自由下落的藥粒，接收傳感器接收到的紅外線信號(hào)由于藥粒的遮擋、下落過程引起的遮擋時(shí)間長短而發(fā)生變化，檢測(cè)計(jì)數(shù)CPU通過對(duì)脈沖信號(hào)變化的計(jì)算，判斷通過的藥粒是合格品、不合格品并進(jìn)行計(jì)數(shù)和記錄。光電式檢測(cè)計(jì)數(shù)技術(shù)的最大優(yōu)點(diǎn)是可檢測(cè)各種形狀、尺寸大小和規(guī)格的藥品顆粒，并可通過參數(shù)設(shè)定確定合格品及不合格品的參數(shù)范圍，保證計(jì)數(shù)完成的藥品的合格率和準(zhǔn)確率。

但是，現(xiàn)有的光電數(shù)粒技術(shù)存在著以下主要缺陷，需要盡快突破，以滿足制藥行業(yè)生產(chǎn)的需要：

首先是小尺寸顆粒的識(shí)別和檢測(cè)問題。目前最成熟的技術(shù)也只能有限檢測(cè)識(shí)別直徑大于2.5mm的顆粒，小于此尺寸運(yùn)動(dòng)著的顆粒往往不能準(zhǔn)確、有效識(shí)別。

其次是三維檢測(cè)問題。光電數(shù)粒機(jī)采用一組光電傳感器，加上顆粒的運(yùn)動(dòng)，可完成物體運(yùn)動(dòng)方向長度簡(jiǎn)單識(shí)別檢測(cè)。但是一組光電傳感器無法識(shí)別三維的顆粒缺陷，對(duì)重疊、顆粒上的細(xì)小破碎無法識(shí)別，易造成不合格品的誤檢。

第三是碎片的剔除?，F(xiàn)有的數(shù)粒技術(shù)，無論是機(jī)械式還是光電式，不合格品的剔除都是在裝瓶后的整瓶剔除，如何將識(shí)別出來的單個(gè)不合格品顆粒剔除，是目前制藥企業(yè)最迫切的要求。

第四是除建立在顆粒的外觀的基礎(chǔ)上的外形尺寸外其它要素的檢測(cè)和識(shí)別。如何識(shí)別單個(gè)顆粒重量、顆粒變形、內(nèi)含金屬或其它物質(zhì)、表面缺陷等不合格要素，需要開發(fā)新的識(shí)別檢測(cè)技術(shù)。

[發(fā)明內(nèi)容]

本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種背光式數(shù)粒裝置。

為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是，一種背光式數(shù)粒裝置，包括物體通道、光源和攝像機(jī)；物體通道為被測(cè)物體經(jīng)過的路徑；光源為線光源并為可見光；攝像機(jī)包括線陣CCD或線陣CMOS；光源布置在物體通道的一側(cè)，攝像機(jī)布置在物體通道的另一側(cè)并與光源的位置相對(duì)，光源、物體通道和攝像機(jī)三者位置構(gòu)成背光照明；物體通道與攝像機(jī)主光軸的交點(diǎn)處為成像位置。

作為優(yōu)選，光源與成像位置的間距小于攝像機(jī)與成像位置的間距。

作為優(yōu)選，光源與成像位置的間距為10mm～100mm。

作為優(yōu)選，還包括第一收集器、第一閥門和容器；第一收集器、第一閥門和容器均位于物體通道的終端；第一收集器為漏斗狀；第一閥門設(shè)在第一收集器與容器之間。

作為優(yōu)選，第一閥門設(shè)在第一收集器的底部。

作為優(yōu)選，，還包括第二收集器、第二閥門；第二收集器為漏斗狀且位于第一閥門的下方，第二閥門位于第二收集器與容器之間。

作為優(yōu)選，第二閥門設(shè)在第二收集器的底部。