[實(shí)用新型]基于ARM的電能質(zhì)量檢測(cè)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201220519381.0 | 申請(qǐng)日: | 2012-10-11 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN202870205U | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-04-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李小明 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 蘇州愛(ài)知電機(jī)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00 |
| 代理公司: | 南京縱橫知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32224 | 代理人: | 董建林 |
| 地址: | 215323 江蘇省蘇*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 arm 電能 質(zhì)量 檢測(cè) 裝置 | ||
1.基于ARM的電能質(zhì)量檢測(cè)裝置,其特征在于:包括ARM微處理器模塊、電壓及電流互感器、電能數(shù)據(jù)處理模塊、液晶顯示模塊、以太網(wǎng)通訊模塊和控制終端,所述電壓及電流互感器的輸入端外接外部電網(wǎng),所述電壓及電流互感器的輸出端通過(guò)電能數(shù)據(jù)處理模塊與ARM微處理器模塊相連接,所述ARM微處理器模塊與液晶顯示模塊相連接,所述ARM微處理器模塊還通過(guò)以太網(wǎng)通訊模塊與控制終端進(jìn)行通訊。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于ARM的電能質(zhì)量檢測(cè)裝置,其特征在于:還包括與所述微處理器模塊相連接的語(yǔ)音播報(bào)模塊、按鍵模塊和看門狗模塊。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于ARM的電能質(zhì)量檢測(cè)裝置,其特征在于:還包括用于各模塊提供工作電壓的電源模塊,所述電源模塊包括交流轉(zhuǎn)直流電路,所述交流轉(zhuǎn)直流電路包括依次連接的變壓器、整流電路、EMI濾波電路和降壓電路。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于ARM的電能質(zhì)量檢測(cè)裝置,其特征在于:所述ARM微處理器模塊包括內(nèi)嵌有Cortex-M3內(nèi)核的ARM處理器。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于ARM的電能質(zhì)量檢測(cè)裝置,其特征在于:所述電能數(shù)據(jù)處理模塊包括諧波采集電路、電能計(jì)量芯片和AD采樣電路,所述諧波采集電路和電能計(jì)量芯片的輸入端分別與電壓及電流互感器的輸出端相連接,所述諧波采集電路和電能計(jì)量芯片的輸出端還通過(guò)AD采樣電路與ARM微處理器模塊相連接,所述AD采樣電路設(shè)有16位AD采集芯片。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于蘇州愛(ài)知電機(jī)有限公司,未經(jīng)蘇州愛(ài)知電機(jī)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://m.szxzyx.cn/pat/books/201220519381.0/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試





