[發(fā)明專利]針對功耗分析的實用型智能卡通用測試系統(tǒng)

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310521764.0
• 申請日: 2013-10-29
• 公開（公告）號: CN103560929A
• 公開（公告）日: 2014-02-05
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 唐明;邱鎮(zhèn)龍;彭紅波;孫偉晉;王欣;李延斌;向瀟
• 申請（專利權(quán)）人: 武漢大學(xué)
• 主分類號: H04L12/26
• 分類號: H04L12/26
• 代理公司: 武漢科皓知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 42222
• 代理人: 嚴(yán)彥

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及智能卡安全領(lǐng)域，主要涉及一種針對功耗分析的實用型智能卡通用測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)

在通訊及數(shù)字信號處理高速發(fā)展的今天，加密設(shè)備的功能和重要性已被許多應(yīng)用所接受。由于加密算法的硬件形式具有更高的安全性、高效性等，已被多個行業(yè)指定為必備的安全防護(hù)平臺和加密形式。實用型智能作為其中一種加密設(shè)備，以其小巧、實用等特點，被廣泛應(yīng)用于各個領(lǐng)域，在保護(hù)信息安全中起著至關(guān)重要的地位。

近年來興起的側(cè)信道分析（Side?Channel?Analysis，SCA）對智能卡的安全造成了極大的威脅，側(cè)信道分析中的功耗分析方法（Power?Analysis,PA）利用密碼芯片中運(yùn)行的數(shù)據(jù)與物理功耗泄漏之間的關(guān)系進(jìn)行攻擊，已被廣泛使用，成功攻破多種智能卡產(chǎn)品，因此本通用測試平臺主要針對實用型智能卡在抗功耗分析方面的安全性測試。側(cè)信道功耗分析包括：簡單功耗分析（Simple?Power?Analysis,SPA）[1]，差分功耗分析（Differential?Power?Analysis,DPA）[1],相關(guān)性功耗分析（Correlation?Power?Analysis,CPA）[2]，互信息分析（Mutual?Information?Analysis，MIA）[3]。

由于側(cè)信道分析的存在，使智能卡的安全性難以保證，所以需要對智能卡的安全性作出合理的評價。此外，根據(jù)最新的評估標(biāo)準(zhǔn)[4]，對智能卡抗側(cè)信道分析能力有明確的要求，同時在美國聯(lián)邦信息處理標(biāo)準(zhǔn)（fips140-3）[5]中將安全級別分為四級，而要達(dá)到三級與四級安全標(biāo)準(zhǔn)，都要求能對抗現(xiàn)有的多種側(cè)信道分析方法，因此必須對智能卡的抗側(cè)信道分析能力進(jìn)行測試。

參考文獻(xiàn)：

[1]P.Kocher,J.Jaffe,and?B.Jun.Differential?Power?Analysis[A].CRYPTO1999[C],Berlin?Heidelberg:Springer-Verlag,1999:388–397.

[2]E.Brier,C.Clavier,and?F.Olivier.Correlation?Power?Analysis?with?a?Leakage?Model[A].CHES2004[C],Berlin?Heidelberg:Springer-Verlag,2004:16–29.

[3]B.Gierlichs,L.Batina,P.Tuyls,and?B.Preneel.Mutual?Information?Analysis[A].CHES?2008[C],Berlin?Heidelberg:Springer-Verlag,2008:426-442.

[4]C.C.consortium.Application?of?Attack?Potential?to?Smartcards?v2.7[EB/OL].http://www.commoncriteriaportal.org/files/supdocs/CCDB-2009-03-001.pdf.2009.

[5]NIST/ITL/CSD.Security?Requirements?for?Cryptographic?Modules.FIPS?PUB140-3[EB/OL].http://csrc.nist.gov/groups/ST/FIPS140_3/.2009.

[6]Research?Center?for?Information?Security(RCIS).Side-channel?Attack?Standard?Evaluation?Board(SASEBO)[EB/OL].http://www.risec.aist.go.jp/project/sasebo/.

[7]TELECOM?ParisTech?University.SASEBO?Waveform?Acquisition?Programming?Guide[EB/OL].http://www.morita-tech.co.jp/SASEBO/en/DPAcontest/index.html

發(fā)明內(nèi)容

針對現(xiàn)有技術(shù)的缺點，本發(fā)明以符合ISO/IEC7816接口標(biāo)準(zhǔn)的實用型智能卡為對象，研發(fā)一個針對功耗信息泄露的安全性測試系統(tǒng)。

本發(fā)明的技術(shù)方案為一種針對功耗分析的實用型智能卡通用測試系統(tǒng)，包括計算機(jī)、采樣示波器和通用測試板卡，

通用測試板卡上設(shè)有用于接觸讀取實用型智能卡的卡槽；