[實(shí)用新型]一種電極性能測(cè)試裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201921674145.4
• 申請(qǐng)日: 2019-09-30
• 公開（公告）號(hào): CN211086173U
• 公開（公告）日: 2020-07-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 宋晉忠;張煜;張葵;余新明;梁仲剛;陳華;楊宜婧;于闖;張琳;曹中平;匡鴻;于童
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國航天員科研訓(xùn)練中心
• 主分類號(hào): G01N27/00
• 分類號(hào): G01N27/00;G01R31/00
• 代理公司: 北京三聚陽光知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11250
• 代理人: 于妙卓

1.一種電極性能測(cè)試裝置，其特征在于，包括：

測(cè)控機(jī)構(gòu)(2)，與待測(cè)件(3)信號(hào)連接；

皮膚仿真模塊(1)，其側(cè)壁上設(shè)置有仿真皮膚膜(11)；

運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)(4)，具有安裝所述待測(cè)件(3)的至少一個(gè)運(yùn)動(dòng)端(5)，所述待測(cè)件(3)設(shè)置在所述仿真皮膚膜(11)上，所述運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)(4)受所述測(cè)控機(jī)構(gòu)(2)控制，使所述運(yùn)動(dòng)端(5)帶動(dòng)所述待測(cè)件(3)在所述仿真皮膚膜(11)上移動(dòng)，并對(duì)所述待測(cè)件(3)施加朝向所述仿真皮膚膜(11)的壓力。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電極性能測(cè)試裝置，其特征在于，所述皮膚仿真模塊(1)包括，

支撐架，其外表面具有外壁和開口；

所述仿真皮膚膜(11)，設(shè)置在所述開口處，具有至少一部分位于所述支撐架的側(cè)面，所述仿真皮膚膜(11)和所述外壁圍成所述支撐架的內(nèi)部密閉空間。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電極性能測(cè)試裝置，其特征在于，所述支撐架為弧面體，所述仿真皮膚膜(11)設(shè)置為弧面形。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電極性能測(cè)試裝置，其特征在于，所述支撐架為多面體，所述仿真皮膚膜(11)至少設(shè)置在所述支撐架的側(cè)面上。

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電極性能測(cè)試裝置，其特征在于，所述外壁或所述仿真皮膚膜(11)上具有適于參考電極(12)伸入所述密閉空間內(nèi)的伸入端口(13)。

6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電極性能測(cè)試裝置，其特征在于，所述密閉空間內(nèi)設(shè)置有膠態(tài)電解質(zhì)或液態(tài)電解質(zhì)。

7.根據(jù)權(quán)利要求1－6中任一項(xiàng)所述的電極性能測(cè)試裝置，其特征在于，所述皮膚仿真模塊(1)設(shè)置有多個(gè)，各所述皮膚仿真模塊(1)內(nèi)插入對(duì)應(yīng)的參考電極(12)，所述參考電極(12)與所述測(cè)控機(jī)構(gòu)(2)連接，各所述仿真皮膚膜(11)上設(shè)置對(duì)應(yīng)的所述待測(cè)件(3)，測(cè)控機(jī)構(gòu)(2)分別控制所述運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)(4)的運(yùn)動(dòng)端(5)帶動(dòng)各所述待測(cè)件(3)在對(duì)應(yīng)的所述仿真皮膚膜(11)上運(yùn)動(dòng)，所述參考電極(12)與所述待測(cè)件(3)信號(hào)交互，測(cè)控機(jī)構(gòu)(2)記錄各所述待測(cè)件(3)的性能數(shù)據(jù)。

8.根據(jù)權(quán)利要求1－6中任一項(xiàng)所述的電極性能測(cè)試裝置，其特征在于，所述皮膚仿真模塊(1)具有1個(gè)，所述皮膚仿真模塊(1)上設(shè)置有至少一個(gè)所述仿真皮膚膜(11)，所述待測(cè)件(3)設(shè)置在對(duì)應(yīng)的所述仿真皮膚膜(11)上，或設(shè)置在所述仿真皮膚膜(11)上的對(duì)應(yīng)位置，測(cè)控機(jī)構(gòu)(2)分別控制所述運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)(4)的運(yùn)動(dòng)端(5)帶動(dòng)各所述待測(cè)件(3)在所述仿真皮膚膜(11)上運(yùn)動(dòng)，并記錄各所述待測(cè)件(3)的性能數(shù)據(jù)。

9.根據(jù)權(quán)利要求1－6中任一項(xiàng)所述的電極性能測(cè)試裝置，其特征在于，所述待測(cè)件(3)為待測(cè)電極。