[其他]用反應(yīng)氣體淀積的材料制作半導(dǎo)體器件的方法及其設(shè)備無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 85102326 | 申請(qǐng)日: | 1985-04-01 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN85102326B | 公開(kāi)(公告)日: | 1988-09-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 西杰森;尤杰;范德普特爾 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 菲利浦光燈制造公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L21/205 | 分類(lèi)號(hào): | H01L21/205 |
| 代理公司: | 中國(guó)專(zhuān)利代理有限公司 | 代理人: | 吳秉芬,肖春京 |
| 地址: | 荷蘭艾*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 反應(yīng) 氣體 材料 制作 半導(dǎo)體器件 方法 及其 設(shè)備 | ||
本發(fā)明涉及一種制作半導(dǎo)體器件的方法。按此方法將一些片狀半導(dǎo)體材料安放在爐管內(nèi)的反應(yīng)管中加熱。反應(yīng)管的管壁上開(kāi)有一些孔,使得每一種反應(yīng)氣體經(jīng)過(guò)開(kāi)孔進(jìn)入反應(yīng)管都在基片上淀積一層材料。然后,剩余氣體從反應(yīng)管的開(kāi)放端排出。
本發(fā)明也涉及實(shí)現(xiàn)此方法的設(shè)備。
所說(shuō)的方法特別適用于制造半導(dǎo)體器件,例如,器件中的多晶硅、SiO2或Si3N4分別作為接觸層、絕緣層和掩膜層。這種方法按嚴(yán)格要求來(lái)控制器件,特別是各層的厚度和成分。在按此法淀積各層時(shí),反應(yīng)管內(nèi)的氣壓最好是低于一個(gè)大氣壓,這種工藝叫做“低壓化學(xué)氣相淀積”工藝,或簡(jiǎn)稱(chēng)LPCVD工藝。
由US-PSNO4232063中得知在公開(kāi)段落中所描述的一種方法。反應(yīng)氣體流通過(guò)爐管,經(jīng)過(guò)管壁上的開(kāi)孔,從基片上流過(guò)反應(yīng)管,使反應(yīng)氣體與反應(yīng)管內(nèi)的基片接觸。反應(yīng)管的作用是使反應(yīng)氣體在硅片上產(chǎn)生均勻分布,因而使基片上的半導(dǎo)體材料分布均勻。
上述已知方法的不足之處在于特別接近反應(yīng)管壁開(kāi)孔的基片上會(huì)淀積上成分不同于所用材料的微粒。當(dāng)?shù)矸e含硅層(諸如多晶硅層、二氧化硅層或氮化硅層)時(shí)在工藝中以硅烷或二氯硅烷(如果必要還添加氧或氮的化合物)作為反應(yīng)氣體那么硅微粒可能含有氫、氯,有時(shí)可能還含有氧、氮。所以在所說(shuō)的微粒層存在的部分,能顯著地改變沒(méi)有或稍微有一點(diǎn)微粒的那部分的厚度和成分。不希望的微粒的存在可以很容易地被觀測(cè)到,因?yàn)橛形⒘拥牟糠钟邪档耐庥^(多晶硅)或變色(SiO2,Si3N4),而不是光亮的外觀。
特別針對(duì)此目的,本發(fā)明必須提供一種在公開(kāi)段落中所描述的方法,使得有可能在一些半導(dǎo)體片上淀積一層半導(dǎo)體材料,并且大大地減小所說(shuō)的成分不同的微粒的出現(xiàn)。
本發(fā)明基于公認(rèn)的事實(shí):所說(shuō)的成分不同的微粒是在反應(yīng)氣體中分子間碰撞時(shí)發(fā)生作用得到的,也就有可能通過(guò)使氣體恰當(dāng)?shù)剌斶\(yùn)的方法來(lái)防止這些微粒淀積到基片上。
為此目的,依照本發(fā)明,在公開(kāi)段落中所提到的方法其特征是沿著反應(yīng)管壁的外側(cè)在爐子內(nèi)產(chǎn)生反應(yīng)氣體流,僅氣流的一部分經(jīng)管壁的開(kāi)孔進(jìn)入反應(yīng)管,使反應(yīng)氣體通過(guò)基片。試驗(yàn)表明,由于采用此種方法,片子不出現(xiàn)或基本不出現(xiàn)變色或暗淡斑點(diǎn),因而淀積在基片上成分不同的微粒顯著地減少。可以推測(cè),僅由沿著反應(yīng)管壁的外邊的氣流來(lái)攜帶比較大的微粒。因而通過(guò)管壁上的開(kāi)孔進(jìn)入反應(yīng)管的氣體中,大量的是分子較小的反應(yīng)氣體,少量的是氣流中較大的微粒。因此,進(jìn)入反應(yīng)管的氣體的大微粒很少,這不僅與沿反應(yīng)管壁流動(dòng)的氣體相比較,而且特別與已知的已說(shuō)明的方法通過(guò)反應(yīng)管的氣體相比較是很少的。因?yàn)榘凑毡景l(fā)明的方法,進(jìn)一步說(shuō)是基片的放置距反應(yīng)管壁上的開(kāi)孔很近,而且還因?yàn)榉磻?yīng)管內(nèi)部的反應(yīng)氣體的濃度較低。所以在氣體碰到基片之前在反應(yīng)氣體內(nèi)因不流動(dòng)而形成微粒的可能性是很小的。因此,在到達(dá)基片的氣體中,所說(shuō)的大微粒也是微乎其微的,以致大大地減小在基片上的淀積。
依本發(fā)明的最佳方案其特征是,在管壁開(kāi)孔的前邊、反應(yīng)管的內(nèi)部安置一個(gè)致密的擋板。依本發(fā)明在一個(gè)很實(shí)用的方案中,用一個(gè)一端封閉的基片載體制成致密的擋板。基片載體一放在反應(yīng)管的位置,反應(yīng)管壁上的開(kāi)孔就被屏蔽了。其結(jié)果是淀積在基片上的大微粒甚至可進(jìn)一步減少。而且,這種擋板與有一層淀積物的基片一起從加熱爐取出后,是很容易清洗的。
本發(fā)明還涉及實(shí)現(xiàn)此方法的設(shè)備。這種設(shè)備具有一個(gè)安置在爐子內(nèi)部的反應(yīng)管,管內(nèi)的若干半導(dǎo)體材料片可以用安置在爐管外邊的加熱單元加熱。反應(yīng)管的管壁上開(kāi)有一些孔,用來(lái)使反應(yīng)氣體進(jìn)入反應(yīng)管,并有一個(gè)開(kāi)放端,用來(lái)排放剩余氣體。依本發(fā)明,這種安排的特征是,反應(yīng)管還有一個(gè)封閉端,與開(kāi)放端相對(duì)。在工作期間,封閉端是對(duì)著從反應(yīng)管通過(guò)的反應(yīng)氣體流動(dòng)的方向的。于是所要求的氣流能夠僅僅沿反應(yīng)管壁的外側(cè)產(chǎn)生。為了用簡(jiǎn)單方法清洗兩個(gè)管道,最好將反應(yīng)管與爐管安裝成可拆卸的。
下面參照附圖,將以舉例的方式,更完整地說(shuō)明本發(fā)明。在附圖中:
圖1和圖2表示依本發(fā)明的方法制造半導(dǎo)體器件的連續(xù)步驟。
圖3是實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的方法縱剖面結(jié)構(gòu)視圖。
圖4是圖3所示的從Ⅳ-Ⅳ線剖視的橫截面的結(jié)構(gòu)圖。
附圖只是簡(jiǎn)單示意圖,沒(méi)有給出標(biāo)尺,但相應(yīng)的部件是用相同的參考數(shù)碼表示的。
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H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專(zhuān)門(mén)適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專(zhuān)門(mén)適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





