[其他]一種相干調制傳遞函數的測量方法

無效

• 申請號: 85102833
• 申請日: 1985-04-01
• 公開（公告）號: CN85102833A
• 公開（公告）日: 1986-09-10
• 發明（設計）人: 王植恒;陳澤先;張冠申
• 申請（專利權）人: 四川大學
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 四川大學專利事務所
• 代理人: 卿微,陳智倫

1、一種調制傳遞函數的測量方法，其特征在于用平行相干光束照明放在凸透鏡前焦平面上的強散射屏，在凸透鏡的后焦平面上用頻譜探測裝置測量強散射屏的空間頻譜的強度分布，然后在強散射屏和凸透鏡中間放入待測光學成象系統，使強散射屏正好位于待測光學成象系統的物平面上，而凸透鏡的前焦平面與待測光學成象系統的象平面重疊，由頻譜探測裝置測得凸透鏡后焦平面上的空間頻譜的強度分布，將兩個測得的強度分布相除，得到待測光學成象系統在各種空間頻率下的相干調制傳遞函數。

2、按照權利要求1所述的測量方法，其特征在于在強散射屏和凸透鏡中間放入的待測光學成象系統的光軸與凸透鏡的光軸相重合或不重合。