[其他]磁光效應(yīng)聯(lián)合測(cè)試儀

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 85103001
• 申請(qǐng)日: 1985-04-01
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN85103001B
• 公開(kāi)（公告）日: 1987-12-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王煜明;孟昭富;夏思科
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 吉林大學(xué)
• 主分類號(hào): G01N21/21
• 分類號(hào): G01N21/21
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

1、一種用于磁光效應(yīng)材料檢測(cè)用的磁光效應(yīng)聯(lián)合測(cè)試儀，它由光源、起偏鏡、電磁鐵、試樣架、檢偏鏡、讀數(shù)盤和光強(qiáng)檢測(cè)系統(tǒng)組成。本發(fā)明的特征是在檢偏鏡〔A〕與電磁鐵〔4〕之間放置一個(gè)半透鏡〔3〕，并且使用的電磁鐵〔4〕開(kāi)有S極小孔〔6〕和N極小孔〔7〕。在電磁鐵的一側(cè)安放檢測(cè)柯?tīng)柎殴庑?yīng)用的檢偏鏡〔A〕、讀數(shù)盤〔B〕、光強(qiáng)檢測(cè)系統(tǒng)〔D〕;在電磁鐵的另外一側(cè)安放檢測(cè)法拉弟磁光效應(yīng)用的檢偏鏡〔a〕、讀數(shù)盤〔b〕、光強(qiáng)檢測(cè)系統(tǒng)〔d〕。從而用一束光同時(shí)實(shí)現(xiàn)柯?tīng)柎殴庑?yīng)與法拉弟磁光效應(yīng)的聯(lián)合測(cè)試。并保證了柯?tīng)柎殴庑?yīng)偏轉(zhuǎn)角的測(cè)定為純極向效果。

本儀器各部件排列順序是：光強(qiáng)檢測(cè)系統(tǒng)〔D〕，讀數(shù)盤〔B〕，檢偏鏡〔A〕，半透鏡〔3〕，電磁鐵〔4〕，檢偏鏡〔a〕，讀數(shù)盤〔b〕，光強(qiáng)檢測(cè)系統(tǒng)〔d〕依次排列安放在同一條導(dǎo)軌上，試樣架〔5〕安放在電磁鐵〔4〕的N，S極之間，而光源〔1〕和起偏鏡〔2〕放置在上述導(dǎo)軌之外。由光源〔1〕發(fā)出的光，經(jīng)起偏鏡〔2〕照射到半透鏡〔3〕上。半透鏡〔3〕的鏡面放置在合適的角度上，以保證從半透鏡反射的光束穿過(guò)電磁鐵〔4〕的S極小孔〔6〕，垂直照射到試樣架〔5〕上面的試樣上，一部分光經(jīng)試樣透射并穿過(guò)電磁鐵〔4〕的N極小孔〔7〕，再穿過(guò)檢偏鏡〔a〕和讀數(shù)盤〔b〕的軸心小孔〔e〕，照射到光強(qiáng)檢測(cè)系統(tǒng)〔d〕上，從而檢測(cè)法拉弟磁光效應(yīng)經(jīng)試樣反射的一束光按原光路返回，透過(guò)半透鏡〔3〕、檢偏鏡〔A〕、讀數(shù)盤〔B〕的軸心小孔〔E〕，照射到光強(qiáng)檢測(cè)系統(tǒng)〔D〕上，從而檢測(cè)柯?tīng)柎殴庑?yīng)。