[其他]勘測地層結構用的微感應裝置

無效

• 申請號: 85104108
• 申請日: 1985-05-30
• 公開（公告）號: CN85104108A
• 公開（公告）日: 1986-11-26
• 發明（設計）人: 克萊因伯;溫喬丘;克拉;格里芬;達德利
• 申請（專利權）人: 施盧默格海外有限公司
• 主分類號: G01V3/30
• 分類號: G01V3/30
• 代理公司: 中國專利代理有限公司
• 代理人: 李先春

1、一種通過鉆孔采用微技術來勘測地層結構的貼附于鉆孔壁上的裝置，它包括：

一個附著在所述的鉆孔壁上滑動的縱向細長體；

安設在所述細長體上的天線裝置，包括：一條用于耦合電磁能的第一天線元件；根據所述的第一天線元件來選擇第一位置的用于耦合電磁能的第二天線元件；根據所述的第一天線元件來選擇第二位置的用于耦合電磁能的第三天線元件，及分別與第二及第三天線元件結合的裝置。

所述天線裝置的第一及第二位置的特征是選擇第二及第三天線元件與第一天線元件在電磁相關對稱的位置。

2、如權利要求1的一套裝置，它的另外特征是：提供給所述第一天線元件以頻率范圍從1兆赫至300兆赫的電流的裝置;以及與所述相結合的第二及第三天線元件相連接的接收裝置。

3、如權利要求1的一套裝置，它的另外特征包括：給分別相結合的第二及第三天線裝置提供頻率范圍從1兆赫至300兆赫的電流的裝置;及與第一天線元件相結合的接收裝置。

4、如權利要求1的一套裝置;它的另外特征是：

所述的第一天線元件包括一個合適的安裝在一個固定形狀構件上的導電構件;

所述的第二天線元件包括一個合適的安裝在一個固定形狀構件上的導電構件;及

所述的第三天線元件包括一個合適的安裝在一個固定形狀構件上的導電構件;主要的是第一，第二及第三天線元件相互間應尺度不變。

5、如權利要求4的一套裝置，它的特征是：主要的第一、第二及第三天線元件共同在一平面;所述第一、第二及第三天線元件的導電構件與所述細長體所貼附的孔壁面共軸線，并與之垂直。

6、如權利要求5的一套裝置，它的特征是：

所述的形狀構件包括一個陶瓷園盤，與一個陶瓷園柱體共軸線;

所述第一天線元件的導電構件包括一個具有預定直徑的第一回路，并合適的安置在所述園盤斷面上并與之共軸線;

所述第二天線元件的導電構件包括一個與所述第一回路直徑不同的具有預定直徑的第二回路，并合適的安置在所述園盤上并與之共軸;

所述的第三天線元件的導電構件包括一個線圈，所選擇的線圈直徑及轉數是使得第二及第三天線元件能處于電磁對稱位置，并合適的安置在所述園柱體斷面上。

7、如權利要求4的一套裝置，它的特征是：所述的第一、第二及第三天線元件主要的是共平面;所述的第一、第二及第三天線元件的導電構件與所述細長體所貼附的孔壁面共軸線并與之平行。

8、如權利要求7的一套裝置，它的特征是：所述的形狀構件包括一個陶瓷園盤斷面與一個陶瓷園柱體斷面共軸線結合。

所述第一天線元件的導電構件包括一個具有預定直徑的第一回路并被合適的安置在所述的園盤斷面上，并與之共軸線。

所述第二天線元件的導電構件包括一個與所述第一回路直徑不同的具有預定直徑的第二回路，并合適的安置在所述園盤斷面上并與之共軸;

所述的第三天線元件的導電構件包括一個線圈，所選擇的線圈直徑及轉數是使得第二及第三天線元件能處于電磁對稱位置，并合適的安置在所述園柱體斷面上。

9、如權利要求1的一套裝置，它的另外特征是：

所述的第一天線元件包括一個合適的安置在一個固定形狀構件上的導電構件;

所述的第二天線元件包括一個合適的安置在一個固定形狀構件上的導電構件，及

所述第三天線元件主要的是與所述第二天線元件相同;

上面所述的第一，第二及第三天線元件相互間尺度不變，并整體的組合在一起;

所選擇第二及第三天線元件各自的位置及方位使得所述第二及第三天線元件對第一天線元件處于電磁對稱位置。

10、如權利要求9的一套裝置，其特點是為了得到特征的差異測量，所述第二及第三天線元件的對稱平面與所述細長體所貼附的孔壁面方向垂直。

11、如權利要求10的一套裝置，其特征是：所述細長體包括一個導電的后面板部件與所貼附的孔壁面平行，第二及第三天線元件，它們位于后面板部件及細長體所貼附的孔壁面之間。

12、如權利要求9的一套裝置，其特征是：為了得到所述絕對測量特征，把所述第二及第三天線元件的對稱平面方向調整到它們與所述細長體所貼附的孔壁面平行。