[其他]試驗漆包線與浸漬漆相容性的方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 85104755
• 申請日: 1985-06-12
• 公開（公告）號: CN85104755B
• 公開（公告）日: 1988-12-07
• 發(fā)明（設計）人: 葛正言;陳大千
• 申請（專利權）人: 上海市電機技術研究所
• 主分類號: G01R27/26
• 分類號: G01R27/26
• 代理公司: 上海專利事務所
• 代理人: 顏承根

本發(fā)明涉及一種通過介電損耗測量進行漆包線與浸漬漆相容性試驗的方法及其裝置。特別是與浸漬漆處理后的漆包線的壽命有關的相容性試驗方法與裝置。

隨著F、H級高分子漆包線在電氣設備如變壓器及電機等中的廣泛應用，為使絕緣結構獲得良好的導熱、機械、防潮等性能，需要將該絕緣部分浸漆。當漆包線經浸漬漆處理后，兩種絕緣材料間的相容性非常重要。如果漆包線上所涂的漆與浸漬漆兩種絕緣材料之間的物理、化學或物理化學的綜合作用的結果是不相容的，就會造成整個系統(tǒng)的絕緣下降、甚至被擊穿。因而應首先進行漆包線與浸漬漆的相容性試驗，以便選擇適當的絕緣材料組合。相容性試驗的方法很多，其中有鉛筆硬度法，負重四點交差法等。但上述兩種方法可靠性不高。列入美國UL實驗室的有關相容性，測試標準有UL1446絕緣材料系統(tǒng)標準，將試樣放在密封管內進行老化，然后進行擊穿試驗。在此基礎上我國在83年底也建立了相應的試驗標準JB/DQ3111-84，即中國機械工業(yè)部電器工業(yè)局企業(yè)標準電機絕緣結構各組分間相容性評定試驗方法。該方法的主要規(guī)程是將浸漆后，漆包線封入密封管使其在高于等級溫度25℃下老化336小時（14天），然后比較密封老化前后的擊穿電壓值，根據擊穿電壓的下降程度來判斷其相容性。但此擊穿電壓法的數據分散性很大，對樣品的測定是破壞性的，而且判斷相容性需要的時間較長。此外日本日立制作所的田中五郎在75年10月24日公開的特開昭50-134190專利“漆包線和浸漬漆的適合性試驗”中提出絕緣電組測定法。該方法為用兩根漆包線在園棒料中密繞成螺旋形線圈，并進行離型處理后放入試驗管，中心插入聚四氟乙烯園棒，注入浸漬漆后進行硬化、使漆包線做成園筒形試料，經加熱老化后吸濕時測定其絕緣電阻，其中老化吸濕交替進行每一個循環(huán)為五天即在180℃加熱2天，在40℃、95%的比濕下吸濕3天，根據絕緣電阻降到10⁵MΩ時的循環(huán)數判斷其相容性。但這樣做試樣制作較為麻煩，而且除加熱外還需要有濕度較大的環(huán)境，且測出結果所需要的時間仍較長。

為了克服以上缺點本發(fā)明的目的是提供一種試樣制作簡便，能連續(xù)非破壞性地進行測量，且所需測試時間較短的方法及設備。

本發(fā)明所提供的方法是一種試驗漆包線與浸漬漆的相容性的方法包括對用浸漬漆浸漬后的漆包線試樣，在加熱老化的條件下測量其介電損耗因子tgδ的介電譜，根據介電譜所反應的老化速度來決定其相容性。

本發(fā)明還提供了一種對漆包線浸漬后的試樣試驗其相容性的裝置包括可裝有漆包線的加熱裝置，熱電偶，控溫儀，介電分析儀，X-Y記錄儀。介電分析儀的輸入端連到放在加熱裝置中的漆包線試樣，并將電測出的tgδ值模擬量輸至X-Y記錄儀的Y輸入端，熱電偶的輸出送到控溫儀以指示加熱裝置中的溫度，控溫儀為加熱裝置供電并控制加溫裝置內的溫度為預定的恒溫值，且輸出與溫度相對應的電壓至X-Y記錄儀的X輸入端。

對附圖扼要說明如下：

圖1、為相容性試驗裝置的方塊圖;

圖2、為漆包線單線試樣的示意圖;

圖3a、為漆包線模型線圈的主視圖;

圖b、為漆包線模型線圈的頂視圖;

圖4、為各組合方案的時間譜;

圖5、為QZY漆包線未浸漬時不同密封老化時間下的tgδ溫度譜

圖6、為QZY漆包線以11477號漆浸漬后不同密封老化時間下的tgδ溫度譜;

圖7、為改性QZY漆包線以11477號漆浸漬后不同密封老化時間下的tgδ溫度譜;

圖8、為tgδ為某一定值時的溫度與密封老化時間的關系圖;

圖9、為擊穿電壓下降隨密封老化時間的下降趨勢圖;

圖10、為空氣管式加熱爐式相容性測量裝置圖。

以下結合最佳實施例對發(fā)明作詳細說明。