[其他]光學測量系統

無效

• 申請號: 85106386
• 申請日: 1985-08-24
• 公開（公告）號: CN85106386A
• 公開（公告）日: 1987-03-18
• 發明（設計）人: 西原貞光;河原勇司
• 申請（專利權）人: 株式會社三豐制作所
• 主分類號: G01B11/02
• 分類號: G01B11/02
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利代理部
• 代理人: 趙蓉民

1、一種光學測量設備，包括一個能用平行掃描測量光線照射被測物體的掃描光源部分，一個用來檢測當上述平行掃描測量光線通過上述物體時的強度變化，以產生光電檢測輸出信號的光電檢測器，一個用來在上述光線掃描期間對時鐘脈沖計數的計數器。上述被測物體的長度決定于當上述平行掃描測量光線沿著上述物體長度方向移動時，在上述計數器中得到的計數值。作為上述設備的特征：上述計數器，在上述平行掃描測量光線通過被測物體的起始端時，就開始它對時鐘脈沖的計數操作；此外，上述設備還包括一個暫時禁止電路，它使上述計數器的計數操作阻塞一段時間，這個時間或者對應于上述計數操作開始以后，上述平行掃描測量光線通過上述物體時產生的偽檢測信號，或者對應于指示上述物體的終止端的檢測信號；一個寄存器，它在禁止期間上述計數器的輸出穩定以后，鎖存上述計數器的輸出；一個修正電路，它在計數操作期間和上述鎖存操作結束以后，把一個對應于上述阻塞周期的修正值加到上述計數器。所有在平行掃描測量光線通過上述物體過程中產生的偽檢測信號都被拋掉，從而實現以在上述物體的起始端和終止端之間所計入的時鐘脈沖數為基礎的正確測量。

2、一種如權項1中所定義的光學測量設備，其特點在于上述平行掃描測量光線的掃描過程是多次重復的，還在于當予定次數的掃描操作完成以后會輸出一個平均值。