[其他]狹縫X射線照像裝置

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 85106558
• 申請(qǐng)日: 1985-08-31
• 公開（公告）號(hào): CN85106558A
• 公開（公告）日: 1987-03-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 西蒙·杜英克;雨果·夫拉斯布勞姆
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 老代爾夫特光學(xué)工業(yè)有限公司
• 主分類號(hào): G03B42/02
• 分類號(hào): G03B42/02
• 代理公司: 中國國際貿(mào)易促進(jìn)委員會(huì)專利代理部
• 代理人: 張衛(wèi)民

本發(fā)明涉及一種用于狹縫X射線照象的裝置，其中包括一個(gè)X射線源，利用該X射線源可將一個(gè)基本上平面的扇形X射線束通過一個(gè)狹縫光闌對(duì)接受輻射的物體進(jìn)行掃描，同時(shí)通過該物體的掃描X射線束照射在一個(gè)X線檢測(cè)器上。

在共同未決（copending）的荷蘭專利申請(qǐng)8400845號(hào)中對(duì)這種包括與狹縫光闌協(xié)同工作的可控衰減元件的裝置進(jìn)行了描述，該專利申請(qǐng)?jiān)诖艘米鰹閰⒖肌：商m專利申請(qǐng)8400845號(hào)中說明了產(chǎn)生衰減元件所需控制信號(hào)的幾種方法。荷蘭專利申請(qǐng)8400845號(hào)中所說明的大多數(shù)情況下，為了達(dá)到這一目的，使用了一系列安置在所采用的X線檢測(cè)裝置出口一側(cè)的光線檢測(cè)器，每一光線檢測(cè)器與狹縫光闌的一個(gè)部份相對(duì)應(yīng)，并且通過控制裝置控制該部份與衰減元件的協(xié)同動(dòng)作，或者是控制該部份與一組衰減元件協(xié)同動(dòng)作。

然而，在利用不透光的X線膠片暗盒作為X射線檢測(cè)器時(shí)，不能以一種簡單的方式來應(yīng)用這種技術(shù)。

因此，本發(fā)明的一個(gè)目的是設(shè)計(jì)一種狹縫X射線照像裝置，其中包括與一個(gè)狹縫光闌協(xié)同工作的可控衰減元件，其協(xié)同方式為，即使采用了不透光的X射線膠片暗盒，仍可用一種相對(duì)簡單并且可靠的方式獲得衰減元件所需的控制信號(hào)。

為了達(dá)到這一效果，根據(jù)本發(fā)明，上述類型裝置的特征在于;包括與狹縫光闌協(xié)同動(dòng)作的多個(gè)可控衰減元件，每個(gè)元件被用于在由輻射檢測(cè)裝置所產(chǎn)生的信號(hào)的控制之下，對(duì)X射線掃描束的一個(gè)部份施加影響;該輻射檢測(cè)裝置被置于接受輻射的物體與X射線探測(cè)器之間;該輻射檢測(cè)裝置包括至少一個(gè)在任何時(shí)刻都探伸到穿透物體的掃描X線束之中，并與該X線束的掃描運(yùn)動(dòng)同步動(dòng)作的輻射檢測(cè)器。該輻射檢測(cè)裝置被分為與可由衰減元件影響的掃描X線束的各節(jié)段相對(duì)應(yīng)的部份，工作時(shí)，輻射檢測(cè)器的每一部份產(chǎn)生出一個(gè)可用于控制衰減元件的信號(hào)。

可以看出，本發(fā)明即可用于使用不透光X射線膠片暗盒的情況，也可用于使用任何其它類型X射線探測(cè)器的場(chǎng)合。

以下將參照附圖，舉例對(duì)根據(jù)本發(fā)明的裝置的幾個(gè)實(shí)施方案予以說明，在附圖中：

圖1示意性地示出根據(jù)本發(fā)明的裝置的第一實(shí)施方案;

圖2示意性地示出圖1的一種變化形式;

圖3示出圖2的另一種變化形式;

圖4示出圖3的一種修改形式;和

圖5示出圖4的一種修改形式。

圖1示意性地示出本發(fā)明的第一實(shí)施方案，其中顯示了具有X射線焦點(diǎn)2的X射線源1。在工作中，X射線源產(chǎn)生X射線束B，其中基本上為平面扇形的一部份B′幾乎都能穿過狹縫光闌3上的狹縫S。另外，圖中示出接受輻射的物體4和置于該物體之后的一個(gè)X射線檢測(cè)器5，該檢測(cè)器5安裝在一個(gè)未示出的外殼之中。該X射線檢測(cè)器可以是任何常規(guī)類型，但在本實(shí)施方案中是由一個(gè)不透光的X射線膠片暗盒構(gòu)成，其中包括一個(gè)X射線熒光屏6和置于其后的X射線膠片7。在某些X射線膠片暗盒中，X射線膠片之后還安裝了第二個(gè)X射線熒光屏。除了這種膠片暗盒，也可采用具有大輸入屏幕的靜態(tài)X射線圖象增強(qiáng)管或采用具有窄條式輸入屏的X射線圖象增強(qiáng)管。在后一種情況中，X射線圖象增強(qiáng)管在工作中執(zhí)行掃描運(yùn)動(dòng)。

在所示的情況中，穿過狹縫光闌的X射線束B′僅照射在物體4的一個(gè)狹長部份上，這一部份在X射線檢測(cè)器的輸入屏上成象。如數(shù)字10所示。為了獲得該物體更大部份的圖象，X射線束適宜于在圖示的平面內(nèi)進(jìn)行掃描運(yùn)動(dòng)。這可以通過不同的方法得以實(shí)現(xiàn)，例如通過使狹縫光闌按箭頭8所指的方向運(yùn)動(dòng)。這些都不構(gòu)成本發(fā)明的一部份。狹縫光闌與多個(gè)可控衰減元件9協(xié)同動(dòng)作。多個(gè)衰減元件并行排列并且可按這樣的方式安置在一個(gè)邊上，即，使衰減元件在適當(dāng)?shù)目刂菩盘?hào)的影響下，可以或大或小幅度不同地探伸到通過或?qū)⒁ㄟ^狹縫S的光束B′之中。這樣，如荷蘭專利申請(qǐng)8400845號(hào)中所說明的那樣。X射線束可以瞬時(shí)地并且局部地被衰減一個(gè)較大或較小的程度?？梢钥闯觯M縫光闌的狹縫可處于水平，垂直或中間的位置，而掃描則可以按垂直，水平或中間的方向進(jìn)行。

應(yīng)根據(jù)穿過物體的X射線的強(qiáng)度來控制衰減元件。為此，根據(jù)本發(fā)明，使用了設(shè)置在接受輻射的物體4和X射線檢測(cè)器之間的輻射檢測(cè)裝置，該輻射檢測(cè)裝置的安裝方式使其在任何時(shí)刻都能將穿過物體的輻射檢測(cè)出來，這種檢測(cè)可分別針對(duì)與衰減元件9相對(duì)應(yīng)的或與一組這種衰減元件相對(duì)應(yīng)的穿過物體的X射線束的每一部份。

根據(jù)本發(fā)明，為此采用了輻射檢測(cè)裝置，該裝置在物體和X射線檢測(cè)器之間執(zhí)行掃描運(yùn)動(dòng)，而該掃描運(yùn)動(dòng)與工作過程中由X射線束B′進(jìn)行的掃描運(yùn)動(dòng)同步。