[其他]接觸信號測頭

無效

• 申請號: 85107033
• 申請日: 1985-09-21
• 公開（公告）號: CN85107033A
• 公開（公告）日: 1987-04-01
• 發明（設計）人: 福吉稔;古頭隆;中村哲夫
• 申請（專利權）人: 株式會社三豐制作所
• 主分類號: G01D5/20
• 分類號: G01D5/20;G01B7/00
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利代理部
• 代理人: 李毅,孫蜀宗

1、一個電測接觸探針與工件接觸的接觸信號測頭，包括一個測頭外殼和一個接觸探針基座，基座定位于該測頭外殼內，并能在多方向上移動。有單一的停頓位置，該基座夾持該接觸探針，該測頭的特征在于測頭包括分別安裝在該接觸探針基座上部和下部的上膜片和下膜片，膜片支撐著接觸探針套體，裝有接觸探針的套體相對于接觸探針基座是可以移動的，在測頭內有許多對安裝在該接觸探針套體上的磁心和分別與這些磁心相對的另外許多對安裝在接觸探針基座上的檢測線圈，因此，通過磁心對和檢測線圈對的相互作用，可以電測該接觸探針在多個方向上的位移。

2、根據權利要求1所提出的接觸信號測頭，其特征是接觸探針基座由滾珠支承座可移動地支撐在探頭外殼的底盤上，保持在它的單一停止位置上，在接觸探針基座和底盤之間裝有偏置彈簧，使得接觸探針基座壓靠在底盤上。

3、根據權利要求2所提出的接觸信號測頭，其特征是滾珠支承座包括三個固定在接觸探針基座上的滾珠槽，三個安裝在底盤上的支座和三個放入相應的滾珠槽和支座之間的支承滾珠，每對支座分別可為錐形支座面，V形凹槽支座面和平支座面，以得到單一的停頓位置。

4、根據權利要求1所提出的接觸信號測頭，其特征是接觸探針套體包括一個在接觸探針套體縱向對稱的六面體磁心支架，在磁心支架三對表面的每一對表面上，裝有一對磁心，與安裝在接觸探針基座上的每對檢測線圈相對應，分別保持一致的預定間隙。