[其他]分光光度計無效
| 申請號: | 85107470 | 申請日: | 1985-10-11 |
| 公開(公告)號: | CN85107470A | 公開(公告)日: | 1987-04-15 |
| 發明(設計)人: | 秋山修 | 申請(專利權)人: | 株式會社島津制作所 |
| 主分類號: | G01J3/00 | 分類號: | G01J3/00 |
| 代理公司: | 中國國際貿易促進委員會專利代理部 | 代理人: | 李強 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 分光 光度計 | ||
本發明所述分光光度計,在紫外線、可見光、紅外線的波長范圍內,不僅可用于測量方形試樣,而且適于測定硅片、保持一定溫度的容器、透鏡以及其他較大的任意形狀試件的穿透率、反射率等。
現有的分光光度計,其光檢測部份與試件室相對固定,試件室較窄,還必須把試件安置在其中一定的位置上;而且只能測定較小的、特定形狀的試件。上述這種特殊的分光光度計,是專為測定照象機鏡頭的穿透率設計。其特點在于:反光鏡使由分光器出來到光檢測器的光線在試件室內折射,其行走路線呈“”形。在“”形的兩個拐角上各有一塊反光鏡,這對反光鏡可以沿“”形的兩條邊移動,可隨透鏡(試件)大小、焦距的變化而改變光所走的“”形路線的長度;同時,試件(透鏡)可以沿“”形的一條邊移動。但試件安放的自由度有限,它只能沿“”形的一條邊移動,因此,這種分光光度計不適于測定透鏡以外的任意試件。此外,還有一種分光光度計,其試樣室的結構類似測角計,它用改變入射角的方法來測定反射光和漫射光,光檢測器可以在以試件為中心的圓弧上移動。但由于試件與光檢測器、分光器等的相互位置均已固定,因而它也不適于對一般試件的測定。
如果用上述分光光度計來測定任意大型試件,為了把由分光器發出的光導向廣闊的自由空間、把穿過試件或試件反射的光引向檢測器,就需要有若干個反射鏡和與這些反射鏡配套的支架和夾具。而且若要把這些部件組裝成一個整體,就必須對分光光度計已有的試件室進行一系列的改造,從而需要大量的資金。另一方面,隨著現代科技的發展,不僅需要測定特制的試件,而且更加需要對某些成品原封不動地進行分光測定,加之,由于商品向大型、小型兩極發展的趨勢日益明顯,所以有必要研制一種適用范圍廣的分光光度計。
本發明根據上述需要,研制新型分光光度計,以便使任意大型試件的測定簡化,并將所需光學部件減少到最低限度。
把試件室作為一個單純的空間,內部不安裝固定的部件(如試件和其他輔助部分的滑軌。定位用的標志等),而由累計球和接收它發出光的光檢測器構成光檢測部份,這個光檢測部份可以放在上述的試件室內的任意位置和任意方向。
在光檢測部份使用累計球,射入累計球的光束即使有強弱變化、或光束的位置和方向即使有一些偏離,也不會影響測定值。光檢測器的受光面上各點對光的反應會因位置不同而產生差異,所以,如果讓被測光束直接進入光檢測器,則光束強弱的變化、受光面上入射位置的偏離等所造成的受光面上各處的靈敏度的差異,會反映在測定值上。但如果使用累計球,則光束的強弱和位置的變化所造成的差異都因光在累計球內的多次反射而完全消失。當然,如把試件作成兩平面平行的規則形狀,并且讓被測光束毫無偏差地垂直射在試件上,固然不會產生光束位置的偏離和強弱的變化,但在測定任意試件時,通常沒有現成的平行平面,因而不可避免地產生光的發散、聚焦、偏向、位移等現象。因此,如果讓被測光束直接射入光檢測器,那么即使是同一試件,由于每次測試時擺放的位置稍有不同便會使測定結果產生變化,于是很少得到相同的結果,也就得不到精確的數值。
然而,本發明的試件室內部沒有固定的結構,光檢測部份的位置和方向可以隨意調整,因此,能夠根據試件的形狀,盡可能減少反光鏡等輔助件的數量,可按對測定來說最佳的位置關系來放置試件和光檢測部份。雖然沒有按照一定要求(規范)將試件以及光檢測部份的位置固定,但由于在光檢測部份使用累計球,便可以得到重復的相同結果。
圖1示出本發明的一個實施范例。其中1是試件室、2是分光器、3是光源。4表示累計球的橫剖面,累計球上如點線所示安裝上光檢測器5,兩者共同構成光檢測部份。6是試件,該圖表示正在測試件6的透過率。7是對光檢測器5的輸出信號進行處理的信號處理電路。累計球4和試件6雖然安置在試件室1里,但它們不是固定安裝在試件室內的,而只是被放置在適當的位置上,可以任意移動其位置。因此,試件室1的底部是用鐵板做成的,累計球4的下面安裝磁性吸盤(圖中未示出)。試件6由試件夾具固定,試件夾具8固定在磁鐵支架9(市場上可買到)上的螺孔10的位置上,可以操縱把手11把磁鐵支架9從吸附面上抬起、拉起,吸附力為30公斤,足以固定較重的試件。按照這種設計,如果從試件室1中把累計球4和試件6以及固定它的夾具一起取出來,則試件室1就成為一個什么也沒有的空間。
在上述的實施范例中,由累計球4和光檢測器5所組成的光檢測部份和試件夾具8(包括磁鐵支架9)以及另外若干帶有磁性吸盤的輔助部件,它們各自能夠在試件室1中的任何位置上安放或取下。輔助部件指的是平面鏡、凹面鏡、阻光器等。圖3和以后的各圖示出使用這些輔助器具的本發明的范例。
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