[其他]檢驗透明料段，特別是平板玻璃的方法及設備

無效

• 申請號: 85109608
• 申請日: 1985-12-14
• 公開（公告）號: CN85109608A
• 公開（公告）日: 1986-07-23
• 發明（設計）人: 盧茨·巴特爾森
• 申請（專利權）人: 平玻璃制造公司
• 主分類號: G01N21/47
• 分類號: G01N21/47
• 代理公司: 中國專利代理有限公司
• 代理人: 楊凱

本發明涉及檢驗透明料段，特別是平板玻璃帶或類似物料的缺陷的方法及設備。這種方法是用激光器發出的高速光點在與縱向輸送的玻璃帶或類似物料的輸送平面和輸送方向相垂直的掃描平面上沿其寬度方向進行掃描，在與掃描平面傾斜的探測器平面上對由于雜質而造成的向前和向后的散射進行測定，根據所獲得的測量數據導出電信號，并對其進行物料缺陷鑒定處理，從而別物料的缺陷。本發明所涉及的設備在縱向輸送的玻璃帶或類似物料的一面上安置點光源，以便在與玻璃帶的輸送平面和輸送方向相垂直的掃描平面上沿玻璃帶的寬度方向發出掃描用的激光光點;并在玻璃帶或類似物料的兩面安置探測器，以便在與掃描平面傾斜的探測器平面上收集由于雜質而造成的向前和向后的散射。

預處理玻璃板中的硫化鎳雜質，在某些條件下會導致玻璃的自行破裂（Glastechn.Ber.50（1977）Nr.11，S.296-300），尤其是裝配樓房正面的玻璃時會對人造成嚴重的危險。為了避免使用這種有缺陷的玻璃板，至今一般采用所謂的“熱-浸試驗。”這種試驗方法是，玻璃板在預處理后再進行適當的熱處理，這樣，預先迫使造成玻璃破裂的硫化鎳雜質進行相轉變。那些在試驗中沒有破裂的玻璃板便極大地提高了安全系數，可用于建筑玻璃裝配。然而，上述這種選擇方法，特別是出于經濟上的考慮由于顯而易見的原因不能令人滿意。

根據英國專利1338611，業已有了本文開頭所指出的那種檢驗玻璃帶的方法和設備，例如，可以檢查從浮動玻璃裝置中連續抽出的玻璃帶的缺陷。原則上也可以能借助這種已知的方法，經過適當的高靈敏度的調整，識別硫化鎳雜質。但是，這種方法卻不能區分其它的玻璃缺陷，特別是微細石子。同樣，根據德國專利3129808，也有類似工作原理的玻璃檢驗設備，通過高靈敏度的調整雖然能夠指示出硫化鎳雜質，但是，不能將硫化鎳雜質與其它的玻璃缺陷區分開，尤其是微細石子。這樣，上述方法并不適用于用來挑選因硫化鎳雜質而造成缺陷的玻璃板，因為，在這種情況下，也挑出了那些具有不會導致上述自行破裂的缺陷的玻璃板，而造成不必要的很高的廢品率。

本發明的任務是創造這樣一種方法和設備，與迄今已知的方法和設備相比，它們能更好地從種類和大小上別所發現的缺陷，尤其是它們有可能將硫化鎳雜質與其它的玻璃缺陷區分開來。

根據本發明，這種方法是這樣來解決這一任務的：將在近紅外（IR-）范圍內工作的激光器用作點光源。

這時可以規定，激光器的波長約為1060毫微米。

此外，必要時本發明還規定，YAG^-激光器所用的波長為1060毫微米。

本發明的方法規定，掃描平面和探測平面之間的角度約為5-445°。

還可以規定，掃描平面和探測平面之間的角度約為5-15°。

另外，本發明還建議，必要時掃描平面和探測平面之間的角度約為10°。

此外，根據本發明所規定的方法，其特征在于：向前和向后的散射形成一個差動信號，利用該信號進行物料缺陷鑒定，別物料的缺陷。

本發明所建議的設備，特別是為實現所要求的方法的設備，其特征在于：將在近紅外（IR-）范圍內工作的激光器定為點光源。

這時可以規定，作為點光源的YAG-激光器，其波長為1060毫微米。

本發明也規定了一種設備，由向前和向后的散射形成差動信號，利用該信號進行物料缺陷鑒定。

本發明規定，掃描平面（32）和探測平面（20）之間的角度約為5-45°。

此外還規定，掃描平面（32）和探測平面（30）之間的角度約為5-15°。

最后，根據本發明的設備，其特征還在于：掃描平面（32）和探測平面（30）之間的角度約為10°。