[其他]測微量具微分筒上棱邊高度檢定儀

無效

• 申請號: 85201876
• 申請日: 1985-05-23
• 公開（公告）號: CN85201876U
• 公開（公告）日: 1986-10-29
• 發明（設計）人: 安立平
• 申請（專利權）人: 安立平
• 主分類號: G01B5/02
• 分類號: G01B5/02
• 代理公司: 天津市專利事務所
• 代理人: 周永銓

本實用新型屬于測距量具。為了降低視覺誤差，在國家計量器具檢定規程中，規定了測微量具固定套管縱刻線表面至微分筒錐面棱邊上邊緣的距離（高度）須用工具顯微鏡檢定，或者用0.4毫米的塞尺置于固定套管縱刻線面以比較法檢定。但是，用工具顯微鏡檢定相當麻煩，成本也較高，而且對測量范圍為500～2000毫米的測微量具不能很好地檢測；用塞尺比較法檢定不能準確地測定固定套管縱刻線表面至微分筒錐面棱邊上邊緣的距離，不能作為仲裁檢定方法。

本實用新型之目的是：制造一種能夠適用于各種測量范圍的測微量具的，并且能快速而正確地測量微分量具固定套管縱刻線表面至微分筒錐面棱邊上邊緣距離（高度）的測量儀。

本實用新型是這樣來實現上述目的的：本檢定儀是由一個千分表（1），一個用來固定千分表和定零位面的主體（2），一個可與千分表頂桿相接的觸頭（3）構成的。

上述的主體（2），其外形像被一個水平平面（a）和一個鉛垂平面（b）裁去了下部的缺角柱體，在缺角部的上部有一個可插入千分表套管的貫通圓孔（o），其側面有一個可將千分表定位的緊固機構（f）；主體（2）的下部柱體上開有一個倒置的V形槽（V），構成V形槽（v）的二個平面（c和d）與上述鉛垂平面（b）相垂直并對稱于由平面c、d的交線和圓孔（o）中心線構成的平面；在主體（2）的下部柱體的側面（b）的上部切去一部分，構成一可限制觸頭（3）下墜的水平臺階（e）。

觸頭（3）是楔形體，其頂部有一個可與千分表頂桿相接的螺柱（g）側部有一個與千分表頂桿中心線平行的側基準平面（h），在平面h側的上部有一個可與前述臺階（e）接觸而限制觸頭下墜的小突起（i）。

裝配與使用：

將千分表（1）的套管從上插入主體（2）的圓孔（o），定位后緊固；將觸頭（3）擰固在千分的頂桿上，并保證觸頭的側面h與主體（2）上的一側面b成平行并處于同一平面中（可呈滑動接觸）。必須強調，各所述平面a、b、c、d必須按要求加工；平面b與平面h必須平行并可呈滑動接觸；觸頭（3）下端的觸物棱線（l）必須與圓孔（o）的中心線（即千分表頂桿中心線）相垂直。

測量時，將主體（2）通過V形槽跨在測微量具的固定套管上，使V形槽的兩個平面與固定套管母線呈密接觸，放下頂桿，使觸頭（3）的觸物線（l）與固定套管成切線接觸，調整千分表零點，拉起頂桿，使主體（2）的平面b與微分筒的環形邊緣緊密接觸，放下頂桿，使觸頭（3）的觸物線（l）與微分筒錐面呈切線接觸，即可由千分表讀出測微量具固定套管縱刻線表面至微分筒錐面棱邊上邊緣的距離（高度）。

實施例：

本人曾按上述結構制作了主體和觸頭，并按上述要求所了裝配，把所得之檢定儀對多種測量范圍的微分量具作了檢測，證明其測量筒單、快速、正確（與用工具顯微鏡所測結果相近、誤差不大于0.005毫米）。另外，本人還作了一個校對量具，定期校準本檢定儀，實踐證明本檢定儀具有良好的重復性和穩定性。

圖1是部分剖示的總裝配圖

圖2是裝配圖的側視圖（未畫千分表）

圖3是測量示意圖

圖4是校對量具