[其他]掃描識譜管

無效

• 申請號: 85205573
• 申請日: 1985-12-27
• 公開（公告）號: CN85205573U
• 公開（公告）日: 1986-10-22
• 發明（設計）人: 呂世驥;阮寶崧
• 申請（專利權）人: 南京工學院
• 主分類號: H01J49/06
• 分類號: H01J49/06;H01J49/26
• 代理公司: 南京工學院專利事務所
• 代理人: 樓高潮,姚建楠

本實用新型掃描識譜管為分光光度計的光電傳感器。目前，分光光度計中多使用單個光電倍增管或光電二極管制成光電傳感器，因而只能借助于狹縫才能測量光譜的分布。由于狹縫不能做得很窄，故測得的光譜相當粗糙。美國曾設計將16只光電二極管排成一列，以達到測量光譜分布的目的，但也只能測出整個光譜中16個點的值。

本實用新型的目的是設計一種體積小，且能精確測量光譜分布的識譜管。

本實用新型是在一硅或砷化鎵單晶片上用半導體平面工藝制成16列、32列，直至4000列光電二極管、光電三極管或電荷耦合器件的矩形或圓形平面陣列作為掃描識譜管的靶面。當分光光度計中的光譜成象在此靶面上時，靶便將光源的光譜分布轉換成相應的電荷分布，再由偏轉系統將電子槍發射的電子束掃描讀出靶面上的電荷分布，便得到光譜分布。

本實用新型與目前分光光度計中的光電傳感器相比，具有靈敏度高、分辨率高達10，并利用多次掃描使信號疊加增大信噪比的優點。特別是由于分辨率高，可以測出線光譜分布。

圖1是掃描識譜管的結構示意圖，圖2是圖1的靶面示意圖。

本實用新型可以采取以下方式實施，以直徑為50mm的n型硅單晶片，用半導體平面工藝制成400×300個光電二極管構成的矩形陣列作為靶〔1〕，將此靶固定于內徑為50mm玻殼中的屏面位置，再裝配一電子槍〔2〕和靜電偏轉系統〔3〕，抽成真空封口，便可制成這種掃描識譜管。