[其他]印刷電路板功能測試系統以及使用上述系統的方法

無效

• 申請號: 86102660
• 申請日: 1986-04-18
• 公開（公告）號: CN86102660A
• 公開（公告）日: 1986-10-15
• 發明（設計）人: 千葉幸正
• 申請（專利權）人: 川崎電子株式會社
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;H05K3/00
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利代理部
• 代理人: 沙捷

本發明涉及一種印刷電路板功能測試系統，這種系統把被測印刷電路板的一組數據和從實際進行的裝置中的功能正常的電路板上獲得的一組基準數據加以比較，并以此判斷出被測印刷電路板的質量是否合格。更具體地說，上述比較是分別在被測印刷電路板和基準印刷電路板上的大量的一一對應的測試點之間進行的。

近來，用來插裝電子元件的印刷電路板在許多技術領域中被廣泛地使用，如用于計算機、家用電器及各種類型的空調器中。因此對大批量生產的印刷電路板進行迅速、可靠的功能測試是極其必要的。

在現有的功能測試器中，先根據預期功能對眾多電路塊進行挑選，并決定測試點。然后根據電路設計對上述測試點上的電流、電壓、波形、頻率等額定特性進行分析計算，并將這些額定特性編成計算機使用的程序。編制這種程序需要許多技術熟練的工程師和很長的工作時間。程序編制完畢后，被測印板通過通用信息總線（GP-IB）與一個假負載相連，以便在計算機程序的指令下模擬實際操作。同時，把一個信號檢測裝置這樣放置，使得被測印板背面的所有測試點都與同樣數量的探針相接觸，但這些探針使得整個裝置體積龐大。這些探針通過同樣數量的繼電器與一臺存有檢測信號的重負載的電子計算機（常常非常昂貴）相連。存貯的被測數據接著和程序數據進行比較以進行質量檢驗。

在先有技術中，準備基準數據和程序不僅需要很長的時間而且需要熟練的工程師，從而導致成本很高，并有可能延誤生產計劃。先有技術的另一個缺點是有這些的情況：模擬測試中質量已經合格的被測印板在實際裝置中工作不合格。這就不僅需要進行重新測試還需要更正程序，這樣就進一步延誤了生產計劃和引起額外費用的增加。因此，先有技術中的功能測試器就相當昂貴因為它需要大容量計算機和體積龐大的探測裝置，使用這種測試器由于上述原因成本就很高。

在本發明提出的功能測試系統和它的使用方法中，不借助使用假器件來模擬實際操作的程序而同樣實現功能測試，從而省去了需技術熟練的工程師干的工作又不再需要大容量計算機和龐大的檢測裝置，這樣就能減少系統的成本。

因此，本發明的一個目的是提出一種系統，該系統先從與實際運行中的裝置連接的印板（基準印板）上獲得基準信號，從也與實行運行中的裝置相連的被測印板上獲得被測信號，并將這兩個信號在CPU（中央處理單元）中進行比較，以判斷被測印板的質量是否合格。

本發明的另一個目的是提出一種通過一根單獨的探針獲得模擬波形信號的裝置，該探針的X方向、Y方向、Z方向的運動由中央處理單元的座標信號控制，中央處理單元存貯了大量座標測試點以及測試順序。探針依次和基準印板上的測試點以及它在受測印板上的對應測試點相接觸;眾多測試點的〔X-y〕坐標和接觸順序都已經存貯在中央處理單元中。

本發明另一個目的是提出波形變換和存貯裝置，依靠它們可以在CRT（陰極射線管）上監視從上述的對應測試點上得到的兩個模擬信號，以及將它們處理成包括數字信號的容易比較的基準數據和被測數據。

本發明還有一個目的是提出一種測試系統，系統中存貯并比較基準數據和被測數據以檢驗印板質量的中央處理單元由一鍵盤上的鍵操作所控制。該測試系統將測試結果以數字形式打印出來，顯示出被測數據是否在基準數據事先規定的范圍之內，并把測試結果存貯在軟盤中。在每一測試點的比較結果以模擬波形的形式顯示在陽極射線管上以進行目測。

簡單地說，本發明設想了一個實現上述目的的測試系統：一個鍵盤和一個小型中央處理單元（CPU）例如一個微型計算機相連，一個用來顯示基準數據和被測數據以供目測的陰極射線管（CRT）、一個軟盤驅動器和一個打印機也與該CPU相連。同時，這個CPU和一個座標檢測裝置相連，這個座標檢測裝置有一個數字轉換器，用來為各測試點記憶和傳送座標信號。用來提示各測試點的x-y座標和跟蹤序號的一塊穿孔板或者一塊測試點指示板被放在座標檢測裝置中的適當位置上，以確定各座標值。CPU也和一個波形檢測裝置相連，從CPU來的座標指令信號驅動裝置中的探針在xyz三方向進行檢測操作。從工作中的裝置中取出的基準印板或被測印板被放置在波形檢測裝置中，該印板通過一根外接電纜仍與原裝置相連。波形檢測裝置與一波形轉換和記憶裝置相連，這個波形轉換和記憶裝置還與CPU相連。上述的波形轉換和記憶裝置用以處理和轉換模擬信號將它轉換成數字信號。這樣獲得的基準數據和被測數據的兩個數字信號被送入CPU進行比較和評價，然后，顯示出比較結果。