[其他]π尺精度的模擬圓檢測方法及裝置

無效

• 申請號: 86106636
• 申請日: 1986-09-22
• 公開（公告）號: CN86106636A
• 公開（公告）日: 1987-04-29
• 發明（設計）人: 于若愚;李延增;于洪珍;關成義
• 申請（專利權）人: 沈陽市工具研究所
• 主分類號: G01B5/02
• 分類號: G01B5/02;G01B5/08
• 代理公司: 沈陽市專利事務所
• 代理人: 張憲恩

1、一種常溫下檢測π尺精度的方法，其特征在于：

a.將π尺[5]在長度方向上展開成直線，與一標尺[4]重疊比照，從標尺[4]上讀出數值，來檢測任意π尺任意示值的誤差；

b.標尺[4]檢測π尺[5]的讀數方法采用π尺檢測工件的讀數方法；

c.在檢測時，標尺[4]和被測π尺[5]各掛一個重錘[6]、[8]，保持與實際檢測時等效的拉力。

2、一種檢測π尺〔5〕的裝置，其特征在于：它由纏繞標尺的標尺儲盤〔1〕、牽引并可調整被測π尺位置的微調卡頭〔7〕檢測π尺精度的標尺〔4〕、鋪設標尺、被測π尺的軌道平臺〔3〕、牽引標尺的重錘〔6〕和支撐滑軌平臺的立柱〔2〕組成。

3、根據權利要求2所述的裝置，其特征在于：標尺〔4〕上有一個副尺段〔12〕和若干個主尺段〔11〕，標尺〔4〕主尺與π尺〔5〕主尺的刻度相同，標尺〔4〕的副尺與π尺〔5〕的副尺的刻度相同，標尺〔4〕的主尺段〔11〕位于標尺左側，副尺段〔12〕位于標尺的右側，標尺〔4〕各主段的第一條線紋到副尺段〔12〕的第一條線紋的距離為（D+δ）π。

4、根據權利要求2或3所述的裝置，其特征在于標尺〔4〕與被測π尺〔5〕采用相同材料制成。

5、根據權利要求2或3所述的裝置，其特征在于牽引標尺〔4〕和被測π尺〔5〕的重錘〔6〕、〔8〕重15.6牛頓。