[其他]光記錄方法和采用該方法的裝置無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 86107205 | 申請(qǐng)日: | 1986-10-15 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN86107205A | 公開(kāi)(公告)日: | 1987-05-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 坪井信義;渡部篤美;佐藤美雄;田智;佐佐木宏 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 株式會(huì)社日立制作所 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G11B7/007 | 分類(lèi)號(hào): | G11B7/007 |
| 代理公司: | 中國(guó)國(guó)際貿(mào)易促進(jìn)委員會(huì)專(zhuān)利代理部 | 代理人: | 李強(qiáng) |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 記錄 方法 采用 裝置 | ||
本發(fā)明涉及光記錄方法和采用該方法的裝置,特別是涉及光記錄方法和使用適于利用光記錄介質(zhì)的方法的裝置,在上述光記錄介質(zhì)中信號(hào)是根據(jù)以下事實(shí)記錄的,當(dāng)光點(diǎn)照射到光記錄介質(zhì)上時(shí),因?yàn)樵撎幍臏囟壬撸橘|(zhì)的光學(xué)特性發(fā)生了變化。
如在JP-A-59-68844中所描述的裝置,在其中將激光聚集成大約1微米(μm)的很小直徑的激光束并照射到如覆蓋著光敏記錄材料的旋轉(zhuǎn)光記錄盤(pán)上,以使高密度地記錄信號(hào)和再現(xiàn)記錄的信號(hào),這種裝置具有下列優(yōu)越性:因?yàn)楦哂涗浢芏龋钥山档兔课坏拇尜A成本;可高速存取;在記錄和讀出過(guò)程中光學(xué)頭和光記錄盤(pán)互不接觸并因此改進(jìn)了光記錄盤(pán)和光記錄裝置的可靠性,這樣該裝置已被看成給未來(lái)信息化社會(huì)提供的新的記錄裝置和介質(zhì)。
作為用于光記錄的記錄介質(zhì),已提出如具有薄記錄膜可由激光的熱能蒸發(fā)在薄膜中產(chǎn)生小孔的介質(zhì)和具有其光密度可由激光的熱能改變的記錄薄膜的介質(zhì)。
另外,對(duì)于在其中光密度可改變的記錄薄膜,已報(bào)道用非晶薄膜可以可逆地改變光密度。光密度可以可逆地改變的事實(shí)意味著信號(hào)可以記錄,再現(xiàn)和抹掉;然而,由非晶材料制造的記錄薄膜很不穩(wěn)定,即,非晶材料的晶化也可在室溫下發(fā)生,因而這種薄膜不適于長(zhǎng)期儲(chǔ)存記錄的數(shù)據(jù)。(Te),硒(Se)和錫(Sn)用來(lái)提高記錄的靈敏度;但這些材料對(duì)人體有有害的影響,并且在制造薄膜時(shí)或處理上述材料的廢棄物時(shí),有產(chǎn)生污染問(wèn)題的可能性。另外,高記錄靈敏度意味著薄膜對(duì)于溫度,光等的影響是敏感的,它導(dǎo)致保留記錄數(shù)據(jù)的保持問(wèn)題。
作為光記錄介質(zhì),還發(fā)展了合金,在合金中可在兩個(gè)不同的晶體狀態(tài)之間發(fā)生相變,并可用這些晶體間光反射系數(shù)的不同實(shí)現(xiàn)信息的記錄和消除。這種合金在JP-A-60-186825和JP-A-61-9542中描述。
對(duì)于有高密度記錄能力的記錄介質(zhì),特別需要高速記錄功能去記錄日益增加的信息量。
因此本發(fā)明的目的是提供光記錄方法和使用這種方法的裝置,在其中信息可以高速地記錄。
本發(fā)明的另一目的是提供光記錄方法和使用這種方法的裝置,在其中信息可以高速地消抹和再記錄。
本發(fā)明的另一目的是提供光記錄方法和使用這種方法的裝置,在其中實(shí)現(xiàn)高溫加熱和高速冷卻的記錄操作以及進(jìn)行加熱和緩慢冷卻的消抹操作是很容易完成的。
根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方案,光記錄介質(zhì)的記錄位置預(yù)熱到低于預(yù)定的記錄所需溫度的一個(gè)溫度上,并根據(jù)記錄信息將該位置加熱到超過(guò)預(yù)定溫度的溫度,這樣就將信息記錄下來(lái)。更具體地,兩個(gè)在位置上相鄰的光點(diǎn)沿著記錄軌道照在光記錄介質(zhì)上,其中的前光點(diǎn)預(yù)熱記錄位置,而后光點(diǎn)在其上記錄信息。
根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施方案,使用光記錄介質(zhì),在其中通過(guò)將記錄介質(zhì)加熱至等于或高于第一個(gè)溫度的溫度處實(shí)現(xiàn)記錄操作,通過(guò)將記錄介質(zhì)加熱到第一個(gè)溫度與高于第一個(gè)溫度的第二個(gè)溫度之間的溫度以實(shí)現(xiàn)消抹操作,在此兩個(gè)相互緊鄰的光點(diǎn)沿著記錄軌道照在光記錄介質(zhì)上,使得前光點(diǎn)將記錄位置加熱到第一個(gè)溫度和第二個(gè)溫度之間的溫度上,由此抹掉了記錄的信息并同時(shí)預(yù)熱了記錄位置,而后光點(diǎn)根據(jù)待記錄信息將記錄位置加熱到不低于第一個(gè)溫度的溫度上,從而記錄了信息。
根據(jù)本發(fā)明的又一實(shí)施方案,第二個(gè)溫度設(shè)在超過(guò)室溫處,而第一個(gè)溫度則設(shè)在第二個(gè)溫度上,其中確定第一個(gè)條件(在此條件下冷卻加熱到超過(guò)第一個(gè)溫度的溫度上的光記錄介質(zhì))的第一個(gè)光點(diǎn)和確定第二個(gè)條件(在此條件下冷卻加熱到超過(guò)第二個(gè)溫度但不超過(guò)第一個(gè)溫度的溫度上的光記錄介質(zhì))的第二個(gè)光點(diǎn)照在光記錄介質(zhì)的導(dǎo)導(dǎo)軌上,以便它們位于互相相鄰的位置上,這樣通過(guò)控制每個(gè)光點(diǎn)的直徑和/或它們的光強(qiáng)在光記錄介質(zhì)上記錄和消抹信號(hào)。更具體地,基于實(shí)驗(yàn)確認(rèn)的造成導(dǎo)致光反射系數(shù)變化的相變所需的溫度和時(shí)間之上,作為確定第一個(gè)和第二個(gè)條件的裝置,提供了兩臺(tái)具有不同波長(zhǎng)的激光器;而光學(xué)系統(tǒng)這樣構(gòu)成,使得由兩臺(tái)激光器之一發(fā)射的光束剛好聚焦,而來(lái)自另一激光器的光束產(chǎn)生散焦條件。控制每個(gè)光點(diǎn)的直徑和每個(gè)激光束的強(qiáng)度,使得記錄介質(zhì)利用散焦光點(diǎn)預(yù)熱或緩慢冷卻,并利用剛好聚焦的光點(diǎn)提高到預(yù)定的溫度,從而在記錄介質(zhì)上記錄信號(hào),或消抹記錄的信號(hào)。
根據(jù)如下附圖的詳細(xì)描述將使本發(fā)明變得很明顯:
圖1是描述本發(fā)明的實(shí)施方案的示意圖;
圖2是用來(lái)解釋在光盤(pán)上記錄和消抹的基本原理的示意圖;
圖3A-6C是描述根據(jù)本發(fā)明的裝置中記錄和消抹信息的操作的示意圖;
圖7是顯示設(shè)置在盤(pán)中的槽的例子的示意圖;
圖8是描述本發(fā)明的另一實(shí)施方案的示意圖。
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G11B 基于記錄載體和換能器之間的相對(duì)運(yùn)動(dòng)而實(shí)現(xiàn)的信息存儲(chǔ)
G11B7-00 用光學(xué)方法,例如,用光輻射的熱射束記錄用低功率光束重現(xiàn)的;為此所用的記錄載體
G11B7-002 .按載體形狀區(qū)分的記錄、重現(xiàn)或抹除系統(tǒng)
G11B7-004 .記錄、重現(xiàn)或抹除方法;為此所用的讀、寫(xiě)或抹除電路
G11B7-007 .記錄載體上信息的排列,例如,軌跡的形式
G11B7-08 .傳感頭或光源相對(duì)于記錄載體的配置或安裝
G11B7-12 .換能頭,例如光束點(diǎn)的形成或光束的調(diào)制
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