[其他]調頻測光法

無效

• 申請號: 86107777
• 申請日: 1986-11-19
• 公開（公告）號: CN86107777A
• 公開（公告）日: 1987-07-15
• 發明（設計）人: 中村健次;德原康隆
• 申請（專利權）人: 株式會社島津制作所
• 主分類號: G02F2/00
• 分類號: G02F2/00;G01N21/17;G01N21/00
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利代理部
• 代理人: 陸麗英

本發明涉及紫外、可見分光光度計和紅外分光光度計等儀器中對給定頻率進行調制的光信號鑒頻，并使用與調制相同步的解調裝置對光信號進行同步測試的方法。

過去，在使用光“通-斷”調制裝置的情況下，當光束的幾何尺寸與旋轉遮光器等調制裝置的幾何尺寸相比不容忽略時，如果根據測試樣品等的不同而改變光束大小及其對調制裝置的相對位置，則同步整流信號的最佳相位將發生變化。

這里，同步整流信號可借助光耦合器等檢測裝置檢測出調制裝置的旋轉動作而得到，而同步整流信號的相位可通過光耦合器等檢測裝置的機械對位進行調整。

圖4中相對于調制裝置旋轉遮光器2而言，由大測試樣品等限定的光束4的大小和位置如實線所示，由小測試樣品等限定的光束6的大小和位置如虛線所示。

如果圖5（A）所示的同步整流信號確定出光束4的最佳相位，用此同步整流信號對光束4進行同步整流，即可得到圖5（B）所示的信號。然而，在改變測試樣品使光束的位置和大小由光束4變為光束6時，若以圖5（A）的同步整流信號對光束6進行同步整流，則整流的信號如圖5（C）。圖5（C）所示的整流信號從表面上看檢出的信號是小的。如果檢測器等的雜波一定，則信雜比（S/N）將下降。

但是，在先前的方法中，檢測調制裝置旋轉動作的光耦合器等的 位置經調整好后是固定的，因而同步整流信號的相位也是固定的，如圖4所示那樣光束變化時，無法調整同步整流信號的相位。

本發明的目的在于提供一種測光的方法，以便被測光束變化時能在測試前使同步整流信號的相位最佳化。

本發明的調頻測光法是在對調制裝置調制的光信號進行鑒頻，并與調制同步地解調的測光中，在對應于上述調制裝置中光“通-斷”動作所預先確定的延時時間之后，設有產生改變整流脈沖的延時電路，可在測試開始前改變同步整流脈沖的延時，而對測試樣品確定最佳的整流脈沖相位。

圖1示出本發明測光系統的一個實施例的框圖;

圖2為圖1測光系統中A～D信號的波形圖;

圖3是實施例的操作流程圖;

圖4是表明旋轉遮光器與光束關系的正視圖;

圖5示出同步整流信號經同步整流的調制波的信號波形圖。

如圖1和圖2所示，由調制裝置旋轉遮光器2調制的光信號經檢測器和前置放大器8檢出并放大后，通過調諧于調制頻率的窄帶放大器10進行選頻放大，得到提高了信雜比的信號A。由窄帶放大器10選頻放大的信號A為正弦波。

光耦合器12檢測旋轉遮光器2的旋轉動作。由旋轉遮光器2的旋轉動作輸出以信號C表示的脈沖信號。延時電路14使用調制同步信號C經任意延時時間T后輸出同步整流信號D。同步整流電路16接收到延時電路來的同步整流信號D，用它對信號A進行同步整流。同步整流得到的信號B經濾波電路18后輸出。20為中央處理器（CPU）系統，由接口22向延時電路14傳輸，延時電路依次改變延時時間，與此同時，將各個延時時間下由濾波電路18輸出的信號E經模/數（A/D）轉換器24輸入，由此確定使濾波電路18的的輸出信號E成為最大時的延時時間。

為了實現這樣的功能，CPU系統20中除CPU20外，還設有程序存貯器28、存貯各延時時間下濾波電路18輸出數據用的存貯器30和存貯下面所述的N、T、X參數以供運算用的存貯器32。

現在通過圖3的流程說明本實施例中確定最佳延時時間的步驟。

設定延時時間T和延時時間變動次數N的初始值（T＝0、N＝0）（步驟S1）。

首先，向延時電路14輸出延時時間T＝0，將此時由濾波電路18輸出的E_O作為輸入數據，存入0號地址存貯器中（步驟S2～S4）。

然后，將N加1，按下列計算延時時間T（步驟S6、S7）：

T＝（Δt/m）N

式中，Δt為延時時間的最大值。

對這種方法給出的延時時間進行相同的檢測，依次將數據存入數據存貯器。

當N＝m時，停止改變延時時間，對存入于存貯器內的數據E₀～Em進行比較，令最大值時的N為X（步驟S5～S8），并按下式求出的延時時間就是可使濾波電路18的輸出為最大時的延時時間：

T＝（Δt/m）X

這就是對這時的光信號而言的最佳延時時間。

將這一最佳延時時間定為向延時電路14輸出的延時時間T，然后可轉入下一步的測試（步驟S9）。

這樣，可使延時時間T在0～Δt之間變化，確定出最佳延時時間。