[其他]測試生長法

無效

• 申請號: 86107798
• 申請日: 1986-11-15
• 公開（公告）號: CN86107798A
• 公開（公告）日: 1987-05-20
• 發明（設計）人: 安吉洛·C·J·洪;弗朗西斯·C·王
• 申請（專利權）人: 特克特朗尼克公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R31/08;G01R31/00
• 代理公司: 中國專利代理有限公司
• 代理人: 肖春京

本發明涉及集成電路的測試，尤其是涉及響應電路設計信息的產生測量向量的方法。

由于超大規模集成電路器件的復雜性以及難于達到成品中內部導電通路，在設計階段就經常要想方設法去確定所擬議的電路的可測試性，并設計出成套的可用測試輸入或向量以檢查所制造的器件中的可能故障。設計的向量，即那些準備用于電路正常操作的向量可能適宜也可能不適宜揭露電路中的隱藏故障，因這些故障只有在不尋常的操作條件下才變得明顯。如果電路的輸入端數很大，為揭露這些故障而應用二進制輸入值的所有組合就會變得不切實際。另一種方法則利用自動測試碼模式發生器，以提供一種適于揭露某個或某些指定的故障，例如電路中的“膠著”（stuck-at）故障。因而，采用一種故障模擬程序以檢查結果，并確定其它故障是否也可用相同的輸入向量檢測其它故障。即，故障模擬器試圖為一已知測試的效能分級。于是，另一種故障擬用于自動測試碼模式發生器，這種故障不會被第一測試向量掩蓋，而自動測試碼模式發生器提供一種第二測試向量。這種迭代法繼續下去，直到被掩蓋的故障數同合乎要求或可以接受為止。可惜的是，這些過程，就以模擬而需用的計算機時間來說，是既冗長而又花錢的。許多設計者終于在可能的場合下避免采用這類測試方法。

總的說來，至今似乎還沒有一種在集成電路器件中采用產生測試向量的方法，該方法是真正令人滿意的。

根據本發明，一個已知的測試計數過程被用以提供可測試性信息，然后用這一相同的信息以枚舉法產生測試向量。

更具體地說，一個集成電路網絡的可測試性是根據測試計數過程來量度的，這個測試計數過程包括了通過介入門電路從輸入端前向至一個主輸出端并后向返回到輸入端的敏感測試計數的傳輸，以便給網絡中的節點提供測試計數矩陣。從所說矩陣，通過將各自的在所說輸入端的敏感數值前向驅動至一所說輸出端，并后向回到所說輸入端的若干連續趟數來枚舉測試計數，從而按照原來各電路節點處的所說矩陣所敘述的做法來累積測試計數。一組敏感值（每趟都要驅動這些節點值）被分別存儲起來，而每組的輸入敏感值都包括集成電路網絡用的測試向量。

本發明的一個目的是要提供一種改進的測試集成電路器件的方法。

本發明另一個目的是要在設計和計算機模擬階段（它不要求無節制地消耗計算機時間）提供一種改進的測試集成電路器件的方法。

在本說明書的結束部分要特別指出本發明的主題，并明顯地提出權利要求。但是，不管是本發明的構造還是操作方法，都可以和其他優點和目的一起，通過參考下列敘述和附圖（其中相同的參考字符代表相同的元件）來很好理解。

圖1是先有技術的自動測試碼模式產生流程圖，

圖2是根據本發明的用以產生測試向量的流程圖，

圖3是門電路示意圖，用以說明在測試計數中所采用的敏感的和鈍感的測試值，

圖4說明可能在與門電路出現的敏感的和鈍感的輸入值和輸出值，

圖5A畫出一個測試計數矩陣，

圖5B畫出一個異或門上的測試計數值，

圖6說明再匯聚扇出術語中的路徑定義，

圖7說明為多個門電路用的前向敏感驅動，

圖8說明為若干個不同門電路用的后向敏感驅動，

圖9說明為多個門電路用的后向鈍感驅動，

圖10至26是本發明包括可測試性分析和測試向量產生過程的諸步驟0至16，

圖27是按圖10至26過程推導出的一整套測試數組圖，以及

圖28至32包括一個根據本發明的計算機化過程的流程圖。