[其他]一種新的高斯光束判別測量法及儀器無效
| 申請號： | 86107992 | 申請日： | 1986-11-28 |
| 公開（公告）號： | CN86107992A | 公開（公告）日： | 1988-06-08 |
| 發明（設計）人： | 朱延彬;沈孝緯 | 申請（專利權）人： | 中國科學院安徽光學精密機械研究所 |
| 主分類號： | G01J1/20 | 分類號： | G01J1/20 |
| 代理公司： | 中國科學院合肥專利事務所 | 代理人： | 周國城 |
| 地址： | 安徽省合肥*** | 國省代碼： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 光束 判別 測量 儀器 | ||
【權利要求書】：
1、一種判別和測量高斯光束的方法，其特征是只須在光束截面內同時對任意等距四點進行采光測量。
2、如權利要求1所述的判別和測量高斯光束的方法，其特征是，確定該高斯光束的束徑和徑向強度分布只須在高斯光束截面任取等距三個坐標點的光強。
3、一種根據高斯光束判別測量方法制作的由衰減片，接收元件，放大器，示波器，A/D轉換和計算機系統組成的高斯光束判別測量儀，其特征是在微處理機里加上一個晶體振蕩器。
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